[實(shí)用新型]一種用于可見異物檢測(cè)儀的擋光裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220693722.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203178178U | 公開(公告)日: | 2013-09-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王業(yè)橋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江猛凌機(jī)電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/01 | 分類號(hào): | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司: | 杭州天欣專利事務(wù)所 33209 | 代理人: | 陳紅 |
| 地址: | 314311 *** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 可見 異物 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種用于可見異物檢測(cè)儀的擋光裝置,其特征是:設(shè)置有導(dǎo)柱、上擋板、上擋板電機(jī)、上擋板滑塊,所述上擋板固定在上擋板滑塊上,上擋板滑塊與導(dǎo)柱相配合并與導(dǎo)柱活動(dòng)連接,上擋板電機(jī)安裝在導(dǎo)柱上,上擋板滑塊與上擋板電機(jī)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于可見異物檢測(cè)儀的擋光裝置,其特征是:所述導(dǎo)柱設(shè)有上擋板滑塊滑動(dòng)槽,上擋板滑塊與上擋板滑塊滑動(dòng)槽相匹配。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于可見異物檢測(cè)儀的擋光裝置,其特征是:還設(shè)有上擋板滑塊傳動(dòng)套,上擋板滑塊開有上擋板滑塊孔,上擋板滑塊傳動(dòng)套設(shè)有內(nèi)螺紋并與上擋板滑塊相固定,上擋板電機(jī)傳動(dòng)軸設(shè)有外螺紋并安裝在上擋板電機(jī)上,上擋板電機(jī)傳動(dòng)軸與上擋板滑塊傳動(dòng)套螺紋配合,上擋板電機(jī)傳動(dòng)軸與上擋板滑塊孔相配合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于可見異物檢測(cè)儀的擋光裝置,其特征是:還設(shè)有上擋板滑塊感應(yīng)塊、上擋板滑塊接近開關(guān),所述上擋板滑塊感應(yīng)塊固定在上擋板滑塊上,上擋板滑塊接近開關(guān)固定在導(dǎo)柱上,上擋板滑塊感應(yīng)塊與上擋板滑塊接近開關(guān)相配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于可見異物檢測(cè)儀的擋光裝置,其特征是:所述導(dǎo)柱下部固定有下?lián)醢澹聯(lián)醢迮c上擋板相對(duì)應(yīng),下?lián)醢逦挥谏蠐醢宓南路健?/p>
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于可見異物檢測(cè)儀的擋光裝置,其特征是:上擋板電機(jī)通過上擋板電機(jī)固定板安裝在導(dǎo)柱上。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浙江猛凌機(jī)電科技有限公司,未經(jīng)浙江猛凌機(jī)電科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220693722.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





