[實用新型]散射系數測量系統有效
| 申請號: | 201220682002.X | 申請日: | 2012-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN203025084U | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發明(設計)人: | 黃永忠;何劉;趙書閣;王德友 | 申請(專利權)人: | 成都萊普科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/47 | 分類號: | G01N21/47;G01N21/17 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 散射 系數 測量 系統 | ||
技術領域
本實用新型涉及光學晶體材料的散射系數和吸收系數測量領域,尤其涉及一種散射系數測量系統。
背景技術
現在有很多測量散射系數的方法,但所使用的原理都基本相同,不同之處在于測量所采用的方法都有所不同。舉例如《中華人民共和國國家標準UDC621.383.032》使用632.8nm的波長透過激光棒后入射到積分球,其具體測量原理及方法如下:
a)打開632.8nm波長的激光光源,預熱15~30min。
b)待光源穩定后,不放被測激光棒,測量積分球內的散射系數,以校準測量系統的穩定性。一般空氣的散射系數是0.01%·cm-1,若測量系統達不到這個數量級,則須重新調試系統,以免產生誤差。
c)將被測激光棒先放在夾具上,調節光欄的孔徑,使光源光束直徑等于被測激光棒直徑的90%。然后將積分球推進使被測激光棒在球內的中間部分,調試使被測激光棒軸、光束和積分球開口處中心同軸。注:被測激光棒放在夾具上,不允許有應力存在,否則將使測試結果失真。
d)將反射光錐插入積分球的光出射口,測量出光強IC。
e)去掉反射光錐,測量出光強II,在遠處應用光吸收材料將透射光去掉,不允許有光反射回積分球內。
f)將激光棒推出積分球,使棒的前端在積分球入口處,測得前向散射光強I2。
g)激光棒的側向散射光強Ih。
h)將光強IC和散射光強Ih代入公式,計算得到被測激光棒的側向散射系數-h。
通過國準UDC?621.383.032的測量方法,我們發現當前散射系數的測量方法具有如下不方便性和缺點:
a)只有一種632.8nm波長的He-Ne激光器。
b)沒有紅光光路批示,無法準確調整光路并且調整光路步驟比較麻煩。
c)將激光棒樣品放在積分球外面,經過樣品沿各個方向散射或反射后,能量損失嚴重,無法準確得到測量結果。
d)測量儀器使用數顯儀器,并要經過公式計算后方可得到測量結果。即測量麻煩,無法直接得到測量結果。
e)無電器與軟件控制方面方法。
f)激光無法按頻率發出,即無法得到即時能量,故測量結果不很準確。
實用新型內容
針對上述現有技術存在的問題,本實用新型目的在于提供一種散射系數測量系統,克服了現有技術中測量的不方便性和缺點。
本實用新型的技術方案是:一種散射系數測量系統,包括光學平臺,所述光學平臺上設置有激光器、可變小孔光闌、積分球、透射光探頭和散射光探頭,所述積分球的入口光闌和出口光闌位于積分球同一條水平軸線的兩端,所述激光器、可變小孔光闌、積分球和透射光探頭依次排列,使激光器發射的激光能依次穿過可變小孔光闌、積分球的入口光闌和出口光闌射到透射光探頭上,所述散射光探頭位于積分球的頂端,積分球的內部設置有樣品支架,所述樣品支架位于散射光探頭的正下方,并能使放置其上的樣品位于積分球的中心位置,激光器由工控機控制,透射光探頭和散射光探頭通過USB連接器連接工控機。
作為優選,所述激光器與控制其開關的激光電源電連,激光電源與控制其溫度的激光水冷機連接,激光電源連接工控機并由工控機進行控制。
作為優選,還設置有紅光指示器,紅光指示器的紅光通過激光器后與激光器的激光光斑同軸。
作為優選,所述散射光探頭與樣品支架之間設置有擋光板。
作為優選,所述激光器與可變小孔光闌之間設置有濾光片。
作為優選,所述濾光片為1064nm窄帶濾光片。
作為優選,所述激光器為雙級燈泵電光調Q?Nd:YAG激光器。
作為優選,所述積分球為300mm積分球,所述積分球的內壁設置有超細顆粒F4粉料涂層。
作為優選,所述激光器通過剪式升降及三維調節臺安裝在光學平臺上。
作為優選,所述濾光片、可變小孔光闌和透射光探頭分別通過支架安裝在光學平臺上。
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