[實用新型]一種板材平面度測量用的支架式檢測平臺

有效

• 申請號: 201220674251.4
• 申請日: 2012-12-07
• 公開（公告）號: CN202947726U
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 李東東;朱正輝;林德健;劉濤;谷勝民;熊盛陽;劉增啟;劉勇;霍曉飛;張增陽
• 申請（專利權）人: 中國運載火箭技術研究院
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 莫丹

1.一種板材平面度測量用的支架式檢測平臺，其特征在于：它包括平面狀的基體（1）和若干個排列固定在基體（1）上方的地腳支架（2）；

所述的每個地腳支架（2）均包括一個圓盤形的支架底座（3），支架底座（3）通過底座固定螺釘（4）固定在基體（1）上表面，支架底座（3）的中心處向上延伸一個帶有內螺紋的底座立柱（5），一個帶有外螺紋的圓頭支撐螺栓（7）通過螺紋裝配在底座立柱（5）的頂端，通過螺紋旋轉來調節圓頭支撐螺栓（7）的高度；圓頭支撐螺栓（7）通過設置在底座立柱（5）側部的鎖緊螺絲（6）鎖緊固定。

2.根據權利要求1所述的一種板材平面度測量用的支架式檢測平臺，其特征在于：所述的基體（1）為地面或厚度為40mm以上的平板。

3.根據權利要求1所述的一種板材平面度測量用的支架式檢測平臺，其特征在于：所述的若干個地腳支架（2）排列固定在基體（1）上方后，使用電子經緯儀對每個圓頭支撐螺栓（7）的位置進行調節，使所有圓頭支撐螺栓（7）的頂端處于同一水平面。

4.根據權利要求1所述的一種板材平面度測量用的支架式檢測平臺，其特征在于：所述的若干個地腳支架（2）呈若干行和若干列排布在基體（1）上方，相鄰地腳支架（2）之間的間距不超過500mm。

5.根據權利要求1所述的一種板材平面度測量用的支架式檢測平臺，其特征在于：所述的地腳支架（2）的數量在50~100個。

6.根據權利要求1所述的一種板材平面度測量用的支架式檢測平臺，其特征在于：所述的支架底座（3）通過3個間隔為120度的底座固定螺釘（4）固定在基體（1）上表面。