[實用新型]一種痕量物質(zhì)探測器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220669247.9 | 申請日： | 2012-12-04 |
| 公開（公告）號： | CN202916189U | 公開（公告）日： | 2013-05-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 沈海濱 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國計量學(xué)院 |
| 主分類號： | G01N21/31 | 分類號： | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司： | 杭州豐禾專利事務(wù)所有限公司 33214 | 代理人： | 王曉峰 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 痕量 物質(zhì) 探測器 | ||
1.一種痕量物質(zhì)探測器，包括有光源、光束準直整形器、近場光學(xué)行波腔以及中階梯光柵光譜儀，其特征在于：
所述的近場光學(xué)行波腔為等腰三角形棱鏡，其底面為內(nèi)全反射面，第一腰面和第二腰面為高反射率反射面，痕量物質(zhì)的測試區(qū)位于內(nèi)全反射面的光學(xué)近場區(qū)域；
所述的光束準直整形器設(shè)置在光源的出射光束的光路上，光束準直整形器的出射光束由第一腰面入射近場光學(xué)行波腔，入射方向與光學(xué)行波腔的內(nèi)全反射面平行，在第一腰面、第二腰面和內(nèi)全反射面構(gòu)成的近場光學(xué)行波腔內(nèi)形成光學(xué)行波，由第二腰面出射；所述的階梯光柵光譜儀設(shè)置在近場光學(xué)行波腔的出射光束的光路上。
2.如權(quán)利要求1所述的一種痕量物質(zhì)探測器，其特征在于：所述的光源為半導(dǎo)體激光器、固體激光器、氣體激光器、液體激光器中的一種。
3.如權(quán)利要求1所述的一種痕量物質(zhì)探測器，其特征在于：所述的準直整形器是伽利略型準直整形器、開普勒型準直整形器中的一種。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
