[實用新型]分光光度檢測裝置有效
| 申請號: | 201220667690.2 | 申請日: | 2012-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN202974857U | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發明(設計)人: | 蔡志;鄒雄偉;黃凱 | 申請(專利權)人: | 力合科技(湖南)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 吳貴明 |
| 地址: | 410013 湖南省*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分光 光度 檢測 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及分光光度領域,特別地,涉及一種分光光度檢測裝置。
背景技術
目前在分析化學領域常用分光光度法對待測物進行定性、定量分析。分光光度法是通過測定被測物質在特定波長處或一定波長范圍內光的吸光度或發光強度,對該物質進行定性和定量分析的方法。在分光光度計中,將不同波長的光連續地照射到一定濃度的樣品溶液時,便可得到與眾不同波長相對應的吸收強度。如以波長(λ)為橫坐標,吸收強度(A)為縱坐標,就可繪出該物質的吸收光譜曲線。
現有的分光光度檢測法是主要是用分光光度計實現的。分光光度計的檢測原理:由光源氚燈或鎢燈發出連續輻射光線經濾光鏡和聚光鏡至單色器入射狹縫處聚焦成像,再經平面反射鏡反射至準直鏡產生平行光射至光柵,在光柵上色散后又經準直鏡聚焦在出射狹縫上成一連續光譜,經出射狹縫射出的光在聚光鏡聚光后分別通過試樣室中的空白溶液、標準溶液或樣品溶液,被部分吸收后光經光門再照射到光電管上,被光電管接收的光信號再被轉換成電信號。
現有的測試儀器進行分光光度法進行測試時,必須嚴格在沒有自然光的環境下完成測試。這是因為自然光成分復雜可能會影響感光器件,從而導致測試出現誤差或者不準確。
實用新型內容
本實用新型目的在于提供一種分光光度檢測裝置,以解決現有的分光光度檢測必須在沒有自然光的環境下進行的技術問題。
為實現上述目的,根據本實用新型的一個方面,提供了一種分光光度檢測裝置,包括:光源,用于發射檢測光束給檢測池;檢測池,用于盛放待檢測溶液,接收檢測光束,以通過檢測光束照射待檢測溶液;感光器件,用于接收通過待檢測溶液的檢測光束,將檢測光束轉換為檢測光電信號,并發送給信號處理器;信號處理器,用于接收檢測光電信號,濾除檢測光電信號的干擾信號,放大濾除干擾信號后的檢測光電信號,并發送給處理器;處理器,用于接收濾除干擾信號后的檢測光電信號,并將濾除干擾信號后的檢測光電信號轉化為相應的數字信號,并根據數字信號得到待檢測溶液的吸光度。
進一步地,信號處理器包括帶通濾波電路和與帶通濾波電路電連接的運算放大電路,其中,帶通濾波電路用于濾除檢測光電信號的干擾信號,運算放大電路用于放大濾除干擾信號后的檢測光電信號。
進一步地,運算放大電路包括一級運算放大電路和與一級運算放大電路電連接的二級運算放大電路,一級運算放大電路包括可連續調節放大倍數的可調電阻,可調電阻連接在一級運算放大電路的芯片的輸入端。
進一步地,可調電阻連接在所述一級運算放大電路的芯片的反向輸入端。
進一步地,分光光度檢測裝置還包括設置在光源和檢測池之間的透鏡,透鏡用于會聚檢測光束。
進一步地,光源為發光器件。
進一步地,感光器件為光敏器件。
進一步地,光源、檢測池及感光器件放置在同一水平面上。
本實用新型具有以下有益效果:
1、根據本實用新型的分光光度檢測裝置,通過信號處理模塊濾除檢測光電信號的干擾信號,可以使得分光光度檢測過程設置在自然光或其他光源的情況下進行;
2、根據本實用新型的分光光度檢測裝置,可連續調節地放大濾除干擾信號后的檢測光電信號,增強分光光度檢測過程的穩定性和抗干擾能力。
除了上面所描述的目的、特征和優點之外,本實用新型還有其它的目的、特征和優點。下面將參照圖,對本實用新型作進一步詳細的說明。
附圖說明
構成本申請的一部分的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解,本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型,并不構成對本實用新型的不當限定。在附圖中:
圖1是本實用新型優選實施例的分光光度檢測裝置的結構示意圖;以及
圖2是本實用新型優選實施例的分光光度檢測裝置的信號處理器的示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的實施例進行詳細說明,但是本實用新型可以由權利要求限定和覆蓋的多種不同方式實施。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于力合科技(湖南)股份有限公司,未經力合科技(湖南)股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220667690.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:真空原位儀
- 下一篇:一種多光譜成像光學系統





