[實(shí)用新型]晶閘管擊穿檢測(cè)電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220663565.4
• 申請(qǐng)日: 2012-12-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN202903964U
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-04-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魯廣斌;關(guān)慧軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 齊齊哈爾齊力達(dá)電子有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/27
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/27
• 代理公司: 大慶知文知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 23115
• 代理人: 方博

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種晶閘管擊穿檢測(cè)電路，屬于電機(jī)控制技術(shù)領(lǐng)域。?

背景技術(shù)

目前，國(guó)內(nèi)的電動(dòng)機(jī)換相控制系統(tǒng)以晶閘管作為無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)，代替機(jī)械開(kāi)關(guān)控制，控制系統(tǒng)采用電氣互鎖，控制電動(dòng)機(jī)的換相操作，在晶閘管主電路工作正常的情況下可避免相間短路。?

由于晶閘管是一種受控半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)元件，在使用過(guò)程中難免出現(xiàn)擊穿、開(kāi)路等失效情況。而晶閘管失效后，會(huì)影響設(shè)備的正常運(yùn)行，甚至?xí)斐上嚅g短路等嚴(yán)重故障，危及設(shè)備和人身安全。而目前的晶閘管檢測(cè)電路，僅僅進(jìn)行故障識(shí)別而無(wú)法向晶閘管控制電路反饋信號(hào)，無(wú)法保障設(shè)備和人身安全。?

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型為解決現(xiàn)有的晶閘管檢測(cè)技術(shù)存在的僅僅進(jìn)行故障識(shí)別而無(wú)法向晶閘管控制電路反饋信號(hào)的問(wèn)題，進(jìn)而提供了一種晶閘管擊穿檢測(cè)電路。為此，本實(shí)用新型提出了如下的技術(shù)方案：?

晶閘管擊穿檢測(cè)電路，包括光電耦合電路和觸發(fā)電路，所述光電耦合電路的采樣信號(hào)輸入端與待測(cè)晶閘管的電壓信號(hào)輸出端連接，所述光電耦合電路的開(kāi)光量信號(hào)輸出端與所述觸發(fā)電路的開(kāi)關(guān)量信號(hào)輸入端連接，所述觸發(fā)電路的觸發(fā)信號(hào)輸出端與所述被測(cè)晶閘管的觸發(fā)信號(hào)輸入端連接。?

本實(shí)用新型通過(guò)對(duì)晶閘管的陽(yáng)極與陰極之間的電壓進(jìn)行采樣，并輸出一個(gè)開(kāi)關(guān)量信號(hào)，當(dāng)晶閘管擊穿時(shí)其陽(yáng)極與陰極之間的電壓接近零伏特，電路輸出高電平開(kāi)關(guān)量信號(hào)，晶閘管沒(méi)有擊穿時(shí)則輸出低電平開(kāi)關(guān)量信號(hào)，晶閘管觸發(fā)裝置收到低電平開(kāi)關(guān)量信號(hào)，輸出觸發(fā)信號(hào)，使晶閘管導(dǎo)通；晶閘管觸發(fā)裝置收到高電平開(kāi)關(guān)量信號(hào)，則不輸出觸發(fā)信號(hào)，避免因晶閘管擊穿而引發(fā)人身及設(shè)備安全事故。?

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式提供的晶閘管擊穿檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖；?

圖2為現(xiàn)有的晶閘管狀態(tài)檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖；?

圖3為本實(shí)用新型的實(shí)施例一提供的晶閘管擊穿檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)示意圖；?

圖4為本實(shí)用新型的實(shí)施例二提供的晶閘管擊穿檢測(cè)電路的電路結(jié)構(gòu)示意圖。?

具體實(shí)施方式

下面對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明：本實(shí)施例在以本實(shí)用新型技術(shù)方案為前提下進(jìn)行實(shí)施，給出了詳細(xì)的實(shí)施方式，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不限于下述實(shí)施例。?

本具體實(shí)施方式提供了一種晶閘管擊穿檢測(cè)電路，如圖1所示，包括光電耦合電路和觸發(fā)電路，所述光電耦合電路的采樣信號(hào)輸入端與待測(cè)晶閘管的電壓信號(hào)輸出端連接，所述光電耦合電路的開(kāi)光量信號(hào)輸出端與所述觸發(fā)電路的開(kāi)關(guān)量信號(hào)輸入端連接，所述觸發(fā)電路的觸發(fā)信號(hào)輸出端與所述被測(cè)晶閘管的觸發(fā)信號(hào)輸入端連接。?

現(xiàn)有的晶閘管狀態(tài)檢測(cè)電路如圖2所示，主要由電源電路、觸發(fā)電路和檢測(cè)結(jié)果指示構(gòu)成。其中的電源電路為待檢測(cè)的晶閘管提供導(dǎo)通電壓，觸發(fā)電路為待檢測(cè)的晶閘管提供觸發(fā)信號(hào)，檢測(cè)結(jié)果指示電路識(shí)別晶閘管是否失效及失效模式。本具體實(shí)施方式提供的晶閘管擊穿檢測(cè)電路的工作原理是：采樣電路對(duì)晶閘管陽(yáng)極與陰極間的電壓進(jìn)行采樣，采樣信號(hào)輸入光電隔離電路的控制端，當(dāng)輸入的采樣信號(hào)為高電平時(shí)，光電隔離電路輸出的開(kāi)關(guān)量信號(hào)控制晶閘管觸發(fā)電路輸出觸發(fā)信號(hào)，當(dāng)輸入的采樣信號(hào)為低電平時(shí)，光電隔離電路輸出的開(kāi)關(guān)量信號(hào)控制晶閘管觸發(fā)電路切斷觸發(fā)信號(hào)。?

下面結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)本具體實(shí)施方式提供的晶閘管狀態(tài)檢測(cè)電路的工作過(guò)程作具體說(shuō)明。?

實(shí)施例一?

如圖3所示，如果晶閘管未導(dǎo)通的情況下，取樣端AC1、AC2為晶閘管兩端交流高電壓（相對(duì)于晶閘管導(dǎo)通時(shí)兩端電壓僅為管壓降而言），當(dāng)晶閘管沒(méi)有導(dǎo)通時(shí)兩端電壓由DQ1整流為脈動(dòng)直流，使光電耦合器U1導(dǎo)通，其輸出端（OUT端）取到的是脈動(dòng)的低電平（因光電耦合器輸入端是脈動(dòng)的直流），然后利用后端的可編程邏輯電路、或者模擬電路等等的濾波、判斷可控硅的狀態(tài)。如果這時(shí)可控硅應(yīng)該是導(dǎo)通的狀態(tài)，檢測(cè)到的卻是脈動(dòng)的低電平信號(hào)就可以判斷可控硅為開(kāi)路的損壞狀態(tài)。?

如果晶閘管導(dǎo)通的情況下，取樣端AC1、AC2為晶閘管兩端電壓僅為管壓降所以不能支持光電耦合器輸入端的導(dǎo)通所以其輸出端（OUT端）取到的是高電平，然后利用后端的可編程邏輯電路、或者模擬電路等等的濾波、判斷可控硅的狀態(tài)。如果這時(shí)可控硅應(yīng)該是截止的狀態(tài)，檢測(cè)到的卻是高電平信號(hào)就可以判斷可控硅為擊穿的損壞狀態(tài)。?

實(shí)施例二?

如圖4所示，本實(shí)施例中的晶閘管狀態(tài)檢測(cè)電路工作原理與實(shí)施例一中的晶閘管狀態(tài)檢測(cè)電路相同，只是利用光電耦合器輸入端雙向?qū)ǖ谋憷?jié)省了圖3中的整流橋DQ1，使電路更加簡(jiǎn)潔。?