[實用新型]自動安平水準儀補償器放大系數的測量裝置有效
| 申請號： | 201220654677.3 | 申請日： | 2012-12-03 |
| 公開（公告）號： | CN202947748U | 公開（公告）日： | 2013-05-22 |
| 發明（設計）人： | 何在庚;王濱;張春峰 | 申請（專利權）人： | 天津市威斯曼光學儀器有限公司 |
| 主分類號： | G01C25/00 | 分類號： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 天津中環專利商標代理有限公司 12105 | 代理人： | 胡京生 |
| 地址： | 300382 *** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 自動 安平 水準儀 補償 放大 系數 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種自動安平水準儀補償器放大系數測量裝置，包括平行光管（1）、補償器支撐座（3）、角度發生器（4）、線掃描CCD（5）、線纜（6）、工作臺底腳（7）、線掃描CCD支架（8）、大理石臺面（9）、平行光管支架（10）和計算機（11），其特征在于：三個工作臺底腳（7）固定于大理石臺面（9）的底端面，平行光管支架（10）和線掃描CCD支架（8）相對固定在大理石臺面（9）上端面的兩邊，平行光管（1）固定在平行光管支架（10）上，線掃描CCD（5）固定在線掃描CCD支架（8）上并與平行光管（1）高度一致，線掃描CCD（5）引出的線纜（6）與計算機（11）相連，角度發生器（4）固定在大理石臺面（9）上，補償器支撐座（3）與其連接，補償器（2）置于補償器支撐座（3）上，補償器（2）的光學中心與平行光管（1）、線掃描CCD（5）在一條水平軸線上。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于天津市威斯曼光學儀器有限公司，未經天津市威斯曼光學儀器有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220654677.3/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：石油試井車鋼絲測量頭
- 下一篇：X形磁阻尼式自動安平水準儀
