[實用新型]一種超高頻局放測試儀考核校驗裝置有效
| 申請號： | 201220653529.X | 申請日： | 2012-12-03 |
| 公開（公告）號： | CN202975308U | 公開（公告）日： | 2013-06-05 |
| 發明（設計）人： | 胡維興 | 申請（專利權）人： | 杭州西湖電子研究所 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人： | 杜軍 |
| 地址： | 310011 浙江省杭*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 超高頻 測試儀 考核 校驗 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種超高頻局放測試儀考核校驗裝置，包括金屬密閉外殼、寬帶信號發射天線、超高頻傳感器，寬帶信號發射天線和超高頻傳感器置于由金屬密閉外殼構成的密閉空間內；所述的寬帶信號發射天線通過信號線與外界儀器相連，超高頻傳感器通過信號線與外界測量儀器相連。
2.根據權利要求1所述的一種超高頻局放測試儀考核校驗裝置，其特征在于：寬帶信號發射天線和超高頻傳感器之間的距離可調節。
3.根據權利要求1所述的一種超高頻局放測試儀考核校驗裝置，其特征在于：所述的外界測量儀器為超高頻信號發生器或頻譜分析儀。
4.根據權利要求2所述的一種超高頻局放測試儀考核校驗裝置，其特征在于：所述的外界測量儀器為頻譜分析儀。
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