[實用新型]多頻陣列天線

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220651306.X
• 申請日: 2012-11-30
• 公開（公告）號: CN203134986U
• 公開（公告）日: 2013-08-14
• 發(fā)明（設計）人: 劉培濤;賈飛飛;孫善球
• 申請（專利權）人: 京信通信系統(tǒng)（中國）有限公司
• 主分類號: H01Q19/10
• 分類號: H01Q19/10;H01Q21/30;H01Q1/36;H01Q1/52
• 代理公司: 北京市立方律師事務所 11330
• 代理人: 劉延喜

1.一種多頻陣列天線，其包括金屬反射板、設置在金屬反射板上的工作于第一頻段范圍的低頻輻射列元和工作于第二頻段范圍的高頻輻射列元，低頻輻射列元包括在第一參考軸的軸向上以相等的第一間距排列的若干低頻輻射單元，高頻輻射列元包括在第一參考軸的軸向上以相等的第二間距排列的若干高頻輻射單元，其特征在于：所述第一間距為所述第二間距的2.5倍，且其中至少有一個所述的低頻輻射單元與位置上相對應的一個所述的高頻輻射單元相嵌套，另有至少一個所述的低頻輻射單元在軸向上位于與該低頻輻射單元相鄰近的兩個相鄰高頻輻射單元之間。

2.根據(jù)權利要求1所述的多頻陣列天線，其特征在于：在所述第一參考軸的軸向上的位置為奇數(shù)或偶數(shù)的低頻輻射單元各與位置上相對應的一個所述的高頻輻射單元相嵌套，其余低頻輻射單元散布于軸向上與該低頻輻射單元相鄰近的兩個相鄰高頻輻射單元中間。

3.根據(jù)權利要求1所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述低頻輻射單元與所述高頻輻射單元均包括有用于輻射其所屬頻段范圍的信號的輻射臂，在正投影到所述金屬反射板的正投影面上，所有的低頻輻射單元的輻射臂和高頻輻射單元的輻射臂彼此之間無重合。

4.根據(jù)權利要求1所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述彼此相嵌套的低頻輻射單元和高頻輻射單元，兩者中自身的輻射臂均呈中心對稱關系，且在正投影到所述金屬反射板的正投影面上，兩者的對稱中心重合。

5.根據(jù)權利要求1所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述低頻輻射列元包括具有不同輻射臂結構的第一低頻輻射單元和第二低頻輻射單元，其中第一低頻輻射單元和第二低頻輻射單元分別居于所述軸向的奇數(shù)和偶數(shù)位置上。

6.根據(jù)權利要求5所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述第一低頻輻射單元的輻射臂在正投影到所述金屬反射板的正投影面上呈包括矩形、圓形在內的任意一種環(huán)狀。

7.根據(jù)權利要求5所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述第二低頻輻射單元的輻射臂在正投影到所述金屬反射板的正投影面上呈具有正交關系的交叉狀。

8.根據(jù)權利要求5所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述第一低頻輻射單元及嵌套于其中的高頻輻射單元設置在參考軸一側位置。

9.根據(jù)權利要求5所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述第二低頻輻射單元設置在參考軸一側位置。

10.根據(jù)權利要求1所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述低頻輻射列元的第一間距為第一頻段范圍的中心頻點所對應的波長的0.6－1.0倍。

11.根據(jù)權利要求10所述的多頻陣列天線，其特征在于，所述低頻輻射列元的第一間距為第一頻段范圍的中心頻點所對應的波長的0.8倍。

12.根據(jù)權利要求1所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述高頻輻射列元的第二間距為第二頻段范圍的中心頻點所對應的波長的0.6－1.0倍。

13.根據(jù)權利要求12所述的多頻陣列天線，其特征在于，所述高頻輻射列元的第二間距為第二頻段范圍的中心頻點所對應的波長的0.8倍。

14.根據(jù)權利要求1至13中任意一項所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述低頻輻射列元所工作的第一頻段范圍為790-960MHz；所述高頻輻射列元的第二頻段范圍為1700-2700MHz。

15.根據(jù)權利要求1至13中任意一項所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述第一間距取值范圍為262.5-287.5mm，所述第二間距取值范圍為105-115mm，均包含端值。

16.根據(jù)權利要求1至13中任意一項所述的多頻陣列天線，其特征在于：所述低頻輻射單元與高頻輻射單元全部設置在所述第一參考軸上。

17.根據(jù)權利要求1至13中任意一項所述的多頻陣列天線，其特征在于：在軸向上設置于相鄰兩個高頻輻射單元之間的至少一個低頻輻射單元，其固定在第二參考軸上，而與其相鄰的兩個高頻輻射單元則固定于第三參考軸上，第二參考軸與第三參考軸關于第一參考軸對稱且相平行。

18.根據(jù)權利要求17所述的多頻陣列天線，其特征在于：另一個在軸向上設置于相鄰兩個高頻輻射單元之間的低頻輻射單元，其固定在第三參考軸上，而與其相鄰的兩個高頻輻射單元則固定于第二參考軸上。