[實用新型]18聯方非接觸式IC卡INLAY的測試裝置有效
| 申請號: | 201220646314.5 | 申請日: | 2012-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN202995765U | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發明(設計)人: | 忻偉 | 申請(專利權)人: | 上海聚碩科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K17/00 | 分類號: | G06K17/00 |
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| 地址: | 201808 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 18 聯方非 接觸 ic inlay 測試 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及非接觸式IC卡的測試領域,具體涉及一種18聯方的非接觸式IC卡INLAY的測試裝置。?
背景技術
非接觸式IC卡又稱射頻卡,非接觸式IC卡與讀寫設備無電路接觸、由非接觸式的讀寫技術進行讀寫(例如光或無線電技術),其內嵌芯片除了存儲單元,控制邏輯外,還增加了射頻收發電路。目前非接觸式IC卡的應用越來越廣泛,例如:交通卡、門禁控制卡、電子消費卡、銀行卡等領域都在不斷應用非接觸式IC卡,且均須符合ISO7816標準;同時,還有許多各種各樣的符合ISO7816標準異形非接觸式IC卡,形狀上是各式各樣,更能融入與市場需求。?
一張正常的IC卡,從芯片綁定到封裝成成品,需要經過許許多多的特殊工藝,它首先將IC芯片與一定大小的銅線或銅箔天線焊接后,將其按一定的數量排列層壓在PVC材料中,經過層壓后,含IC芯片的PVC材料通常叫中料或INLAY,這些都是由IC卡本身的性質所決定的。其中很重要的一個環節,就是對INLAY的檢測,傳統的做法,對每個IC卡的INLAY都是用一個13.56兆頻率的非接觸式IC卡的讀寫設備進行單個檢測,這種測試方法最主要的缺陷是:(1)準確度不高,存在有相鄰的干擾;(2)效率低,當檢測完18個INLAY時,至少需要2分鐘,有漏測現象。?
因此,一種準確度和效率更高的測試裝置成為了IC卡生產商的迫切需求。?實用新型內容?
本實用新型提供了一種18聯方非接觸式IC卡INLAY的測試裝置,使得測試過程更加方便快捷,測試結果更加準確。?
18聯方非接觸式IC卡INLAY的測試裝置,包括一盒體,其特征在于,所述盒體表面設置有LCD顯示屏;所述盒體內部設置有非接觸式IC卡的讀寫模塊、MCU控制模塊以及3*6排列的天線板,MCU控制模塊輸出控制指令,進而控制3*6排列的天線板上天線的切換,所述讀寫模塊對被接通天線對應的IC卡進行讀寫,并將測試結果反饋給MCU控制模塊進行分析處理,進而輸出給LCD顯示屏,以顯示測試結果信息。?
進一步地,所述測試裝置的盒體表面還設置有IC卡放置區域,用于放置IC卡。?
進一步地,所述測試裝置的盒體表面還設置有電源開關,為整個測試過程提供電源。?
進一步地,所述測試裝置的盒體表面還設置有測試按鈕,當測試按鈕被按下時,整個測試過程啟動。?
優選地,所述非接觸式IC卡的讀寫模塊可以為市面常規的IC卡讀寫器,但其頻率須與所述3*6排列的天線板的頻率相一致。?
優選地,所述MCU控制模塊包括MCU控制器、微型繼電器及所述微型繼電器的驅動電路,所述繼電器及其驅動電路的數量及位置與3*6排列的天線板的天線數量和位置相對應。?
進一步地,所述讀寫模塊輸出端與MCU控制器輸入端相連接,讀寫模塊的?輸入端與所述微型繼電器的輸入端相連接;所述微型繼電器的輸出端與3*6排列的天線板上的天線分別連接。?
本實用新型的有益效果:?
1、準確度更高:自動將已放置于唯一位置的INLAY中的18聯方逐一測試,并將結果以與INLAY同樣圖形顯示在LCD上,最大限度的減少人為的錯誤;?
2、整個測試過程不需要主機,單獨的測試盒體使得測試更加方便;?
3、使用范圍廣:如果被測試目標能被置于天線范圍內即可?
附圖說明
圖1為本實用新型所述測試裝置的盒體示意圖;?
圖2為本實用新型所述測試裝置的結構示意圖;?
圖3為本實用新型所述3*6排列的天線板示意圖。?
具體實施方式
如圖1所示,為本實用新型所述測試裝置的盒體,盒體表面設置有LCD顯示屏1,IC卡放置區域2、電源開關4以及測試按鈕3。?
如圖2所示,為本實用新型所述測試裝置盒體的內部結構圖,所述盒體內部設置有非接觸式IC卡的讀寫模塊、用于輸出控制指令并對測試結果信息分析處理的MCU控制模塊以及3*6排列的天線板;所述LCD顯示屏的輸入端與MCU控制模塊輸出端相連接,用于顯示測試結果信息;所述讀寫模塊的輸出端與所述MCU控制模塊的輸入端相連接;所述MCU控制模塊用于切換3*6排列的天線板上天線;所述3*6排列的天線板的輸入端用于接收相對應IC卡的無線射頻?信號;?
需要說明的是,本實施例中,非接觸式IC卡的讀寫模塊使用市面上常規的IC卡讀寫器即可;?
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