[實用新型]PCB板測試用無間隙兩段式結構

有效

• 申請號: 201220633369.2
• 申請日: 2012-11-26
• 公開（公告）號: CN202994971U
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 肖秋生;鄭建生
• 申請（專利權）人: 昆山威典電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 昆山四方專利事務所 32212
• 代理人: 盛建德

技術領域

本實用新型涉及一種PCB板測試裝置，具體是涉及一種PCB板測試用無間隙兩段式結構。

背景技術

PCB板在生產過程中需要經歷很多環節，其中每個環節都需要進行相應的測試來檢測產品的好壞，PCB板測試治具為PCB板的測試提供一個良好的平臺，基本工作原理是利用將PCB板上的待測點與測試機中的對應點相連接，通過相應的程序來實現最終的測試。

真空治具是PCB板測試常用的治具，主要包括上、下模和底框三部分，上、下模主要包括上、下針板、上、下載板、探針組件及密封組件，底框內含界面版，上、下載板用于保護待測PCB板和導正測試針點，上、下針板用于固定加長探針和普通探針等探針組件，密封組件用于上下模結合時確保治具內部處于密封狀態，上、下模的測試針點與界面板上的針點用導線連接，界面板上的針點再與測試機上的針點一一對應，但是，隨著PCB板功能越來越強，線路結構也越復雜，需要測試的點也越來越多，而相應的真空治具的測試探針也越來越多，因此，經常會遇到一些測試過程中存在一些會干擾和不需測試的探針接觸PCB板的情況，進而影響其他探針的測試結果，現有技術解決上述問題的方法是使用人工一一拔除這些干擾和不需測試的探針，再進行測試，需要時再重新插回去，這種方式會造成對產品測試的測試零件的含蓋率不足，且在插拔探針過程中，容易使針套偏移，造成探針無法準備接觸測試點，影響測試結果。也有采用兩段式的測試治具，設置固定針板和活動針板，多次測試時始終接觸到測試針點的探針設為固定探針，固定在固定針板上，在一些測試過程中會干擾的或不需測試探針設為活動探針，固定在活動針板上，通過調整活動針板相對測試點的距離來調整探針是否與測試點接觸，從而一定程度上解決了測試過程中所有探針同時接觸PCB板影響測試結果的問題，但是這種方式需要設置固定針板和活動針板，活動針板通過一定的驅動機構帶動，這種結構較為復雜，實施起來帶來很多不便。

發明內容

為了解決上述技術問題，本實用新型提出一種PCB板測試用無間隙兩段式結構，具有結構簡單，便于操作實施的優點，且通過設置長、短探針結合掛鉤機構的精確定位作用，可以精確控制真空放開時針板和載板間距離，從而能夠確保在一次測試之后，按照測量要求很方便的將會干擾或不需測試的探針脫離，方便二次測試的進行，確保二次測試的結果，本實用新型只需一次吸真空過程即可完成PCB板兩段式測試，因此，能夠提高了測試效率，進而節省測試成本。

本實用新型的技術方案是這樣實現的：

一種PCB板測試用無間隙兩段式結構，以使用方向為基準，包括豎向由上而下順序設置的上針板、上載板、下載板和下針板，所述上載板和所述上針板之間以及所述下載板和所述下針板之間具有供真空吸合的空間，所述上載板和所述下載板之間設置待測PCB板，對應待測PCB板上多次測試時始終需要探針接觸的待測試針點，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設有長探針，對應待測PCB板上多次測試時不需要探針始終接觸的待測試針點，所述上針板上和所述下針板上分別豎向穿設有短探針，對應每一個探針，所述上載板和所述下載板上設有導正所述探針的探針通孔，真空吸合時，所述長探針和所述短探針能夠穿過所述探針通孔同時觸及所述待測試針點，另設有掛鉤機構，所述掛鉤機構能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點。

作為本實用新型的進一步改進，所述掛鉤機構能夠在真空放開時僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點的結構是：所述掛鉤機構包括上掛鉤組件、下掛鉤和驅動機構，所述上掛鉤組件包括上掛鉤和與所述上掛鉤聯動設置的上載板掛鉤，所述驅動機構固設在所述上針板上，所述上針板上固設有固定塊，所述上掛鉤組件中部與所述固定塊鉸連接，所述下掛鉤與所述下針板固定連接，所述驅動機構能夠驅動所述上掛鉤組件使所述上掛鉤的鉤部朝向和脫離所述下掛鉤的鉤部，使所述上載板掛鉤的鉤部朝向和脫離所述上載板。

作為本實用新型的進一步改進，所述驅動機構為氣缸。