[實用新型]一種螺旋副行程功能檢測量具有效
| 申請號: | 201220624142.1 | 申請日: | 2012-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN202994021U | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發明(設計)人: | 秦英;李曉云;胡曉雪;胡健 | 申請(專利權)人: | 北京航星機器制造公司 |
| 主分類號: | G01B5/00 | 分類號: | G01B5/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100013 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 螺旋 行程 功能 檢測 量具 | ||
1.一種螺旋副行程功能檢測量具,包括:中空的用于安裝螺旋副的量具體(1),位于量具體(1)內部且相互裝配的螺旋軸(5)與螺旋軸套(6),用于定位螺旋軸套(6)的定位插銷(2),檢驗螺旋軸初始位置與終止位置的檢驗插銷(3),以及使螺旋副相對旋轉的螺旋軸扳手(4)。
2.如權利要求1所述的一種螺旋副行程的功能檢測量具裝置,其特征在于:在所述量具體(1)上設有定位孔A(10),對應的在螺旋軸套(6)上設有的定位孔B(11)。
3.如權利要求2所述的一種螺旋副行程的功能檢測量具裝置,其特征在于:在所述量具體(1)上設有初始位置檢驗孔(7)和終止位置檢驗孔(9);螺旋軸(5)上設有基準孔(8)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京航星機器制造公司,未經北京航星機器制造公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220624142.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:鋁卷用光柵尺測量裝置
- 下一篇:一種高精度尖頭千分桿復合測量裝置





