[實(shí)用新型]電子元件檢查分類設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220613505.1
• 申請(qǐng)日: 2012-11-19
• 公開（公告）號(hào): CN202921577U
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭煒彥;陳奐維;賴正鑫;曹允杰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 臺(tái)灣暹勁股份有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/36
• 分類號(hào): B07C5/36
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型是提供一種于多個(gè)置料裝置間設(shè)有共用的3Ｄ取像器，并搭配具多個(gè)移料器的搬移裝置，而提升3Ｄ取像器的使用效能，以及易于分類收置電子元件，進(jìn)而節(jié)省設(shè)備成本及增加檢查產(chǎn)能的電子元件檢查分類設(shè)備。?

背景技術(shù)

在現(xiàn)今，電子元件于制作完成后，業(yè)者是以檢查設(shè)備對(duì)電子元件進(jìn)行接點(diǎn)、外觀、真圓度或型號(hào)等檢查作業(yè)，請(qǐng)參閱圖1，為現(xiàn)有電子元件檢查設(shè)備的示意圖，其是于機(jī)臺(tái)11上配置有一具供料區(qū)121及載臺(tái)122的供料器12，其供料區(qū)121是容置有盛裝待檢查電子元件14的料盤13，并以載臺(tái)122將具待檢查電子元件14的料盤13作第一方向（如Ｘ方向）位移載送至移料器15的下方，移料器15是作第二、三方向（如Ｙ、Ｚ方向）位移于載臺(tái)122上的料盤13取出待檢查的電子元件14，并移載至3Ｄ取像器16處，3Ｄ取像器16即對(duì)料盤13上的電子元件14進(jìn)行3Ｄ取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置（圖未示出），中央控制裝置即對(duì)電子元件14進(jìn)行接點(diǎn)、外觀、腳位或真圓度等檢查作業(yè)，移料器15再將3Ｄ取像完畢的電子元件14放回料盤13，進(jìn)而依序取出下一批待檢查的電子元件14，于各電子元件14完成3Ｄ取像作業(yè)后，檢查設(shè)備是以移盤器17將料盤14移載至一具載臺(tái)181及收料區(qū)182的收料器18處，收料器18是以載臺(tái)181將料盤13載送至2Ｄ取像器19的下方，2Ｄ取像器19是作第二方向位移對(duì)料盤13上的電子元件14進(jìn)行2Ｄ取像作業(yè)，并將取像資料傳輸至中央控制裝置，中央控制裝置即對(duì)電子元件14進(jìn)行型號(hào)、商標(biāo)等檢查作業(yè)，于各電子元件14完成2Ｄ取像作業(yè)后，載臺(tái)181是將具已檢查電子元件14的料盤13載送至收料區(qū)182收置；但是，所述檢查設(shè)備是于一供料器12的側(cè)方配置一3Ｄ取像器16，以對(duì)電子元件14進(jìn)行3Ｄ取像作業(yè)，但3Ｄ取像器16的購置成本相當(dāng)昂貴，若于增設(shè)的各供料器12側(cè)方均增配一3Ｄ取像器16，對(duì)于整體檢查設(shè)備而言，勢(shì)必大幅增加成本，又移料器15是將電子元件14移載至3?Ｄ取像器16取像后，再放回料盤13收置，并待料盤13作第一方向位移，方可于料盤13上取出下一電子元件，但卻導(dǎo)致3Ｄ取像器16于移料器15執(zhí)行取放電子元件14作業(yè)時(shí)，必須待機(jī)空等下一取像的電子元件14，不僅無法發(fā)揮3Ｄ取像器16的使用效能，更降低檢查設(shè)備的生產(chǎn)效能。?

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目之一，是提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，其包含多個(gè)置料裝置、取像裝置、分類裝置、搬移裝置及中央控制裝置，多個(gè)置料裝置分別設(shè)有至少一盛裝待檢查電子元件的料盤，取像裝置于多個(gè)置料裝置間設(shè)有共用且取像電子元件的3Ｄ取像器，并設(shè)有至少一可位移動(dòng)作且取像電子元件的2Ｄ取像器，搬移裝置設(shè)有多個(gè)移料器，用以將多個(gè)置料裝置處的待檢查電子元件移載至共用的3Ｄ取像器進(jìn)行取像作業(yè)，使得檢查分類設(shè)備可利用各裝置的時(shí)序搭配動(dòng)作，毋須于各置料裝置的側(cè)方相對(duì)增設(shè)3Ｄ取像器，達(dá)到大幅節(jié)省設(shè)備成本的實(shí)用效益。?

本實(shí)用新型的目之二，是提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，其中，所述搬移裝置設(shè)有多個(gè)移料器，用以將多個(gè)置料裝置處的待檢查電子元件移載至共用的3Ｄ取像器進(jìn)行取像作業(yè)，進(jìn)而縮減3Ｄ取像器的空等待機(jī)時(shí)間，以充分發(fā)揮3Ｄ取像器的使用效能，達(dá)到提升設(shè)備生產(chǎn)效能的實(shí)用效益。?

本實(shí)用新型的目之三，是提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，其中，所述分類裝置設(shè)有至少一盛裝良品電子元件的良品區(qū)、至少一盛裝不良品電子元件的不良品區(qū)及至少一盛裝次級(jí)品電子元件的次級(jí)品區(qū)，所述搬移裝置設(shè)有至少一換料器，用以于多個(gè)置料裝置及分類裝置間補(bǔ)換電子元件，當(dāng)各置料裝置的料盤上的各電子元件執(zhí)行3Ｄ／2Ｄ取像作業(yè)完畢后，中央控制裝置控制搬移裝置的換料器將置料裝置的料盤上的不良品電子元件移載至分類裝置的不良品區(qū)，并將良品區(qū)的良品電子元件補(bǔ)置于置料裝置的料盤上，使各置料裝置的料盤收置整盤良品電子元件，達(dá)到易于分類收料的實(shí)用效益。?

為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供一種電子元件檢查分類設(shè)備，包含：?

機(jī)臺(tái)；?

多個(gè)置料裝置：其配置于機(jī)臺(tái)，是分別設(shè)有至少一盛裝待檢查電子元件的料盤；?

取像裝置：其配置于機(jī)臺(tái)，是于多個(gè)置料裝置間設(shè)有共用的3Ｄ取像器，用?以對(duì)電子元件進(jìn)行3Ｄ取像作業(yè)，另設(shè)有至少一2Ｄ取像器，用以對(duì)電子元件進(jìn)行2Ｄ取像作業(yè)；?

分類裝置：其配置于機(jī)臺(tái)，是設(shè)有至少一盛裝良品電子元件的良品區(qū)；?

搬移裝置：其配置于機(jī)臺(tái)，設(shè)有多個(gè)移料器，以分別于至少一置料裝置與取像裝置的3Ｄ取像器間移載電子元件，另設(shè)有至少一換料器，以于置料裝置與分類裝置的良品區(qū)間進(jìn)行補(bǔ)換料作業(yè)；?