[實(shí)用新型]一種用于批量電子元器件測(cè)試的測(cè)試板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220611742.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-11-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN203012063U | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 毛巖;劉喆;賈文耀;王雷;申晶晶;陳文;柳建國(guó);梁爽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)石油集團(tuán)長(zhǎng)城鉆探工程有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/01 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/01;G01R1/04 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 馬永利;李浩 |
| 地址: | 100101 中*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 批量 電子元器件 測(cè)試 | ||
1.?一種用于批量電子元器件測(cè)試的測(cè)試板(10),其特征在于包括:
安裝在該測(cè)試板表面上的多組測(cè)試部(1001,1002…),每組測(cè)試部用于一種類(lèi)型的電子元器件,其中,每組測(cè)試部中的每個(gè)測(cè)試部均具有:
???????用于安置待測(cè)電子元器件的凹槽(105);
???????凹槽兩側(cè)與待測(cè)電子元器件的兩個(gè)電極(1101、1102)分別相對(duì)的兩個(gè)電接觸件(1151、1152);和
???????連接在該測(cè)試板表面上的兩個(gè)調(diào)節(jié)裝置(120),一個(gè)調(diào)節(jié)裝置與一個(gè)電接觸件連接,用于使得該一個(gè)電接觸件在常態(tài)下處于工作位置并且在放置或取出待測(cè)電子元器件時(shí)處于回退位置,其中工作位置使得該一個(gè)電接觸件與相應(yīng)測(cè)試部中的待測(cè)電子元器件電接觸,回退位置使得該一個(gè)電接觸件離開(kāi)該待測(cè)電子元器件;
接觸部(125),從接觸部向該多組測(cè)試部引出多對(duì)電連接線,其中一對(duì)電連接線與一個(gè)測(cè)試部的電接觸件相對(duì)應(yīng),用于向該插槽中的待測(cè)電子元器件加電。
2.?如權(quán)利要求1所述的測(cè)試板(10),其特征在于該多組測(cè)試部至少包括兩組,分別用于測(cè)試貼片電阻器、貼片電容器以及貼片電感器中的至少兩種。
3.?如權(quán)利要求2所述的測(cè)試板(10),其特征在于每組測(cè)試部包括多個(gè)測(cè)試部,其中各個(gè)測(cè)試部中的凹槽尺寸彼此不同,用于放置不同尺寸的待測(cè)電子元器件。
4.?如權(quán)利要求1所述的測(cè)試板(10),其特征在于該每個(gè)測(cè)試部具有多個(gè)凹槽,每個(gè)凹槽之間設(shè)置有擋板(130)。
5.?如權(quán)利要求1所述的測(cè)試板(10),其特征在于該每個(gè)測(cè)試部的電接觸件包括連接部(135)和從連接部伸出的具有彈性的金屬片(136),在測(cè)試時(shí),該金屬片利用彈力壓緊在對(duì)應(yīng)待測(cè)電子元器件的相應(yīng)電極上。
6.?如權(quán)利要求1-5之一所述的測(cè)試板(10),其特征在于該調(diào)節(jié)裝置(120)為下端(1205)固定在測(cè)試板表面而上端(1210)自由的彈性片,并且其上具有突出部(1215),在常態(tài)下該突起部抵著對(duì)應(yīng)的電接觸件,使其處于工作位置;當(dāng)需要放置或取出待測(cè)電子元器件時(shí),上端被向遠(yuǎn)離待測(cè)電子元器件的方向扳動(dòng),從而突出部帶動(dòng)所連接的電接觸件移動(dòng),使其處于回退位置。
7.?如權(quán)利要求1-5之一所述的測(cè)試板(10),其特征在于該調(diào)節(jié)裝置(120)包括固定在測(cè)試板表面上的第一彈性部件(1220),支撐在第一彈性部件上的按壓部件(1225)以及第二彈性部件(1230),其中,按壓部件在遠(yuǎn)離測(cè)試板表面的方向上依次具有下部(1235)、過(guò)渡部(1240)以及上部(1245),該下部和上部面對(duì)待測(cè)電子元器件的表面為平面,而過(guò)渡部面對(duì)待測(cè)電子元器件的表面為平滑坡面,并且其中,在按壓部件在該面對(duì)待測(cè)電子元器件的的表面上設(shè)有卡槽,第二彈性部件一端滑動(dòng)卡接在該卡槽內(nèi),另一端與對(duì)應(yīng)的電接觸件相連,在常態(tài)下該第二彈性部件被壓縮地連接在按壓部件的下部與對(duì)應(yīng)電接觸件之間,使該電接觸件處于工作位置;當(dāng)需要放置或取出待測(cè)電子元器件時(shí),按壓部件被朝著測(cè)試板表面的方向按壓,第一彈性部件被壓縮,第二彈性部件順著卡槽從下部經(jīng)過(guò)過(guò)渡部移動(dòng)到上部從而被釋放,由此帶動(dòng)所連接的電接觸件移動(dòng),使其處于回退位置。
8.?如權(quán)利要求7所述的測(cè)試板(10),其特征在于所述第一、第二彈性部件為彈簧。
9.?如權(quán)利要求1所述的測(cè)試板(10),其特征在于所示測(cè)試板為PCB板,所述多對(duì)電連接線均布線在PCB板內(nèi)部。
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- 專利分類(lèi)
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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