[實用新型]一種用于橋式元器件極性的多頭測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220601708.9 | 申請日: | 2012-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN202948096U | 公開(公告)日: | 2013-05-22 |
| 發(fā)明(設計)人: | 許彩云;翟寶明;周士俊 | 申請(專利權(quán))人: | 上海昌福半導體有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/02 | 分類號: | G01R31/02 |
| 代理公司: | 上海天翔知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31224 | 代理人: | 呂伴 |
| 地址: | 201302 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 元器件 極性 多頭 測試 裝置 | ||
1.一種用于橋式元器件極性的多頭測試裝置,其特征在于,包括:
一安裝底板,所述安裝底板上設置有若干個安裝槽,所述安裝槽設置有下開口;
設置在每一個安裝槽上的測試單元,所述相鄰兩個測試單元的距離間隔相同,所述測試單元的測試針通過所述安裝槽的下開口向下伸出。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于橋式元器件極性的多頭測試裝置,其特征在于,所述安裝底板的側(cè)面還設置有供所述測試單元的指示燈伸出的通孔。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海昌福半導體有限公司,未經(jīng)上海昌福半導體有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220601708.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:摩托車用軟軸傳動系統(tǒng)
- 下一篇:養(yǎng)殖專用鍋爐





