[實(shí)用新型]振蕩器晶體電參數(shù)測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220597803.6
• 申請(qǐng)日: 2012-11-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN202948083U
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李永斌;楊鐵生;段宗濤
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 同方國(guó)芯電子股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 唐山永和專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所 13103
• 代理人: 張?jiān)坪?/td>

1.一種振蕩器晶體電參數(shù)測(cè)試裝置，其特征在于：包括振蕩器定位框、設(shè)置于振蕩器定位框外側(cè)將振蕩器移載到振蕩器定位框內(nèi)的運(yùn)動(dòng)控制單元和將振蕩器產(chǎn)品固定于測(cè)量基準(zhǔn)位置的定位探針，還包括與SMD振蕩器外測(cè)點(diǎn)進(jìn)行接觸的測(cè)量探針；測(cè)量探針與π板相連接；π板與250B測(cè)試系統(tǒng)相連接。