[實(shí)用新型]一種方形凸點(diǎn)整流橋連接片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220597421.3 | 申請日: | 2012-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN202905698U | 公開(公告)日: | 2013-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陸敏琴;潘超 | 申請(專利權(quán))人: | 揚(yáng)州虹揚(yáng)科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/488 | 分類號: | H01L23/488 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 趙秀斌 |
| 地址: | 225116 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 方形 整流 連接 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種方形凸點(diǎn)整流橋連接片。
背景技術(shù)
現(xiàn)行結(jié)構(gòu)焊接時(shí)容易造成焊接不良,容易形成晶粒偏位;芯片損傷電性良率下降。影響產(chǎn)品可靠性,產(chǎn)品使用壽命能力下降。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種方形凸點(diǎn)整流橋連接片,本新型對整流橋結(jié)構(gòu)的改進(jìn),減少晶粒偏位,增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性和使用壽命。
本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:一種方形凸點(diǎn)整流橋連接片,包括芯片、框架和連接片,所述框架與芯片為方形結(jié)構(gòu),所述芯片焊接在框架方形結(jié)構(gòu)的下半部分,所述連接片為階梯狀結(jié)構(gòu),所述連接片分為下平面和上平面,所述下平面遠(yuǎn)離上平面的一側(cè)的前半部分設(shè)有凸點(diǎn),所述凸點(diǎn)為方形,所述連接片通過凸點(diǎn)與所述芯片焊接。
本實(shí)用新型的有益效果是:本新型連接片的凸點(diǎn)為方形形狀,在焊接時(shí)容易與晶粒方形配合,糾正位置,不會壓傷晶粒玻璃邊,降低焊接不良率,提升良率,可以提高產(chǎn)品的可靠性和使用性。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型連接片的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為圖1的側(cè)面圖;
圖3為本實(shí)用新型方形凸點(diǎn)整流橋連接片的結(jié)構(gòu)示意圖;
附圖中,各標(biāo)號所代表的部件列表如下:
1、框架,2、芯片,3、連接片,3-1、下平面,3-2、上平面,4、凸點(diǎn)。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的原理和特征進(jìn)行描述,所舉實(shí)例只用于解釋本實(shí)用新型,并非用于限定本實(shí)用新型的范圍。
如圖1~3所述,一種方形凸點(diǎn)整流橋連接片,包括芯片2、框架1和連接片3,所述框架1與芯片2為方形結(jié)構(gòu),所述芯片2焊接在框架1方形結(jié)構(gòu)的下半部分,所述連接片3為階梯狀結(jié)構(gòu),所述連接片3分為下平面3-1和上平面3-2,所述下平面3-1遠(yuǎn)離上平面3-2的一側(cè)的前半部分設(shè)有凸點(diǎn)4,所述凸點(diǎn)4為方形,所述連接片3通過凸點(diǎn)4與所述芯片2焊接。
以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
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