[實用新型]用于VDMOS器件可靠性測試的雙列直插陶瓷底座有效

申請號：	201220588508.4	申請日：	2012-11-09
公開（公告）號：	CN202994834U	公開（公告）日：	2013-06-12
發明（設計）人：	范曾軼;廖炳隆;儲征毓;羅晶	申請（專利權）人：	上海華虹NEC電子有限公司
主分類號：	G01R1/04	分類號：	G01R1/04
代理公司：	上海浦一知識產權代理有限公司 31211	代理人：	丁紀鐵
地址：	201206 上***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	用于 vdmos 器件可靠性測試雙列直插陶瓷底座
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【權利要求書】：

1.一種用于VDMOS器件可靠性測試的雙列直插陶瓷底座，包括金屬引腳（1）、金屬底板（2）、金屬片（3），所述金屬片（3）通過金屬片的金屬連線（4）與金屬引腳（1）連接，其特征在于，所述金屬底板（2）的每個側面與位于該側面外的金屬片（3）遠離金屬引腳（1）的一端在橫向上留有間隙，所述金屬底板（2）的每個側面均通過若干金屬底板的金屬連線（6）與金屬引腳（1）連接。

2.根據權利要求1所述的用于VDMOS器件可靠性測試的雙列直插陶瓷底座，其特征在于，所述金屬底板的金屬連線（6）與金屬片的金屬連線（4）的走線一致，二者在縱向上留有間隙。

3.根據權利要求1所述的用于VDMOS器件可靠性測試的雙列直插陶瓷底座，其特征在于，所述金屬底板的金屬連線（6）與金屬片（3）和金屬片的金屬連線（4）數量相同，位置一致。

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