[實(shí)用新型]一種MRI梯度線圈渦流測(cè)量裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220587492.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-11-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203012037U | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王鵬;莫磊;田洪君;平學(xué)偉;莫紀(jì)江;王飛;劉曉輝;盛恒松;劉燕杰;趙華煒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京豐盛超導(dǎo)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R33/12 |
| 代理公司: | 南京天華專利代理有限責(zé)任公司 32218 | 代理人: | 夏平 |
| 地址: | 211113 江蘇省南*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 mri 梯度 線圈 渦流 測(cè)量 裝置 | ||
1.一種MRI梯度線圈渦流測(cè)量裝置,其特征在于:包括現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列單元、顯示單元、DAC模塊、ADC模塊、梯度放大器和超導(dǎo)線圈,現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列單元內(nèi)部具有:激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生單元、數(shù)字信號(hào)輸出單元、通道控制單元、控制接口單元、ADC采樣接口單元、數(shù)據(jù)處理單元、DAC配置單元和顯示接口單元,數(shù)字信號(hào)輸出單元通過激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生單元連接控制接口單元,控制接口單元通過通道控制單元連接DAC模塊和ADC模塊,ADC采樣接口單元、數(shù)據(jù)處理單元、DAC配置單元和顯示接口單元依次連接,ADC采樣接口單元、數(shù)據(jù)處理單元、DAC配置單元和顯示接口單元分別與控制接口單元連接;控制接口單元與計(jì)算機(jī)連接,顯示接口單元與顯示單元連接,DAC配置單元與DAC模塊連接,ADC采樣接口單元與ADC模塊連接,ADC模塊連接超導(dǎo)線圈的一端,超導(dǎo)線圈的另一端通過梯度放大器連接DAC模塊。
2.如權(quán)利要求1所述的MRI梯度線圈渦流測(cè)量裝置,其特征在于:所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列單元內(nèi)部的數(shù)據(jù)處理單元可完成對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)字積分和對(duì)渦流參數(shù)的計(jì)算。
3.如權(quán)利要求1所述的MRI梯度線圈渦流測(cè)量裝置,其特征在于:所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列單元內(nèi)部的通道控制單元可完激勵(lì)信號(hào)的通道控制和接收通道的選擇。
4.如權(quán)利要求1所述的MRI梯度線圈渦流測(cè)量裝置,其特征在于:所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列單元內(nèi)部的激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生單元和數(shù)據(jù)處理單元均可重配置,滿足不同的測(cè)量需求。
5.如權(quán)利要求1所述的MRI梯度線圈渦流測(cè)量裝置,其特征在于:所述數(shù)字信號(hào)輸出單元包括任意波形產(chǎn)生單元。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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