[實用新型]一種用于測試磁芯的機構

有效

• 申請號: 201220570644.0
• 申請日: 2012-11-01
• 公開（公告）號: CN202903829U
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 賈廷力;吳雪源
• 申請（專利權）人: 登封市中岳新能源科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R33/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種用于測試磁芯的機構。

背景技術

生產的納米晶磁芯在出廠前需要進行測試，以便挑出次品，保證供給市場納米晶磁芯的質量，當前，用于測試磁芯電感或其他參數的電橋如TH2816，TH2817等等，測試儀器廠家的測試儀器沒有標配測試夾具，使得測試納米晶磁芯不方便且無法實現快速批量的在線測試。

實用新型內容

本實用新型提供一種用于測試磁芯的機構，以便方便快捷對納米晶磁芯進行測量。

本實用新型的技術方案是：一種用于測試磁芯的機構，該機構包括測試臺板、固設在該測試臺板上的立板、俯仰轉動鉸接在所述立板上部的探針固定板，在所述探針固定板遠離所述立板的一端設有至少一個測試探針，在所述測試臺板上設有在所述測試探針向下運動至所述測試臺板時與相應所述測試探針電接觸的至少一個觸點。

優選的，所述探針固定板與所述測試臺板之間設有用于對所述探針固定板施加向上作用力的復位彈性件。

優選的，所述復位彈性件為壓簧。

優選的，所述立板的上部具有容納所述探針固定板的凹槽，所述探針固定板置于所述凹槽中，所述探針固定板通過設于所述凹槽槽壁上并穿過該探針固定板的銷軸實現在所述立板上部的所述俯仰轉動鉸接。

本實用新型用于測試磁芯的機構，在使用時，將測試探針及相應觸點分別通過導線連接到測試儀器上，然后將納米晶磁芯放置在測試探針下方的測試臺板上，下壓探針固定板使測試探針與相應觸點電連接形成與納米晶磁芯交鏈的回路，即可實現測試，非常方便快捷，可以快速批量在線測試。

更進一步的，探針固定板與測試臺板之間設有用于對探針固定板施加向上作用力的復位彈性件，在測試時，下壓探針固定板，測試完成后復位彈性件自動將探針固定板頂壓回原來位置，為放置下一個納米晶磁芯提供方便，使得操作更加輕松快捷。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型實施例做詳細描述：

一種用于測試磁芯的機構的實施例，該機構包括測試臺板1、固設在該測試臺板1上的立板2、俯仰轉動鉸接在立板2上部的探針固定板3，立板2的上部具有容納探針固定板3的凹槽，探針固定板3置于凹槽中，探針固定板3通過設于凹槽槽壁上并穿過該探針固定板3的銷軸7實現在立板2上部的俯仰轉動鉸接，在探針固定板3遠離立板2的一端設有4個測試探針4，在測試臺板1上設有在測試探針4向下運動至測試臺板1時與相應測試探針4電接觸的4個觸點5，探針固定板3與測試臺板1之間設有用于對探針固定板3施加向上作用力的復位彈性件6，在測試完一個納米晶磁芯后復位彈性件6自動將探針固定板3頂壓回原來位置，為放置下一個納米晶磁芯提供方便，使得操作更加輕松快捷，本實施例中，復位彈性件6為壓簧。

在使用時，將測試探針及相應觸點分別通過導線連接到測試儀器上，導線從測試臺板的下方電連接觸點，然后將納米晶磁芯放置在測試探針下方的測試臺板上，下壓探針固定板使測試探針與相應觸點電連接形成與納米晶磁芯交鏈的回路，即可實現測試，非常方便快捷，可以快速批量在線測試。

在本實用新型的其他實施例中，與上述實施例不同的是，所述測試探針還可以根據需要設置1根、2根或5根等等，所述的觸點與測試探針的數目相同并且一一對應；在本實用新型的其他實施例中，與上述實施例不同的是，壓簧還可以用彈性棒或彈性球來代替。

本實用新型用于納米晶磁芯電感測試，還可以用于納米晶磁芯其他參數的測試，還可以用于測試鐵氧體磁芯、坡莫合金磁芯等。