[實用新型]一種測量校正裝置有效
| 申請號： | 201220562366.4 | 申請日： | 2012-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN202974320U | 公開（公告）日： | 2013-06-05 |
| 發明（設計）人： | 蔣健忠 | 申請（專利權）人： | 銓盛電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01D18/00 | 分類號： | G01D18/00;G01G23/01 |
| 代理公司： | 深圳市千納專利代理有限公司 44218 | 代理人： | 劉海軍 |
| 地址： | 中國臺灣臺北縣三重市*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 校正 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種測量校正裝置，其特征是：所述的裝置包括量測裝置和校正裝置，量測裝置和校正裝置通過信號傳輸裝置連接。
2.根據權利要求1所述的測量校正裝置，其特征是：所述的測量裝置上連接有第一顯示裝置。
3.根據權利要求1所述的測量校正裝置，其特征是：所述的校正裝置上連接有第二顯示裝置。
4.根據權利要求1或2或3所述的測量校正裝置，其特征是：所述的校正裝置的內部電路包括控制單元、運算放大器、模數轉換單元和運算單元，運算放大器連接在傳輸裝置上，傳輸裝置傳輸的信號經運算放大器放大后輸入模數轉換單元，經模數轉換單元轉換成數字信號后輸出給運算單元，控制單元連接在運算單元上。
5.根據權利要求4所述的測量校正裝置，其特征是：所述的運算單元采用微處理器。
6.根據權利要求4所述的測量校正裝置，其特征是：所述的控制單元采用操作按鍵。
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