[實(shí)用新型]一種射頻泄漏測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220551079.3 | 申請(qǐng)日: | 2012-10-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202916359U | 公開(公告)日: | 2013-05-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋博 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安開容電子技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R29/08 |
| 代理公司: | 西安吉盛專利代理有限責(zé)任公司 61108 | 代理人: | 張培勛 |
| 地址: | 710075 陜西省西安市高新區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 射頻 泄漏 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種射頻泄漏測(cè)試裝置,它包括射頻轉(zhuǎn)換裝置(1)、接收天線(2)、接收儀(3)、信號(hào)源(4)、同軸線纜(5)和屏蔽室(6),其特征是:射頻轉(zhuǎn)換裝置(1)通過同軸線纜(5)與信號(hào)源(4)導(dǎo)通,它們?cè)O(shè)置在屏蔽室(6)外,射頻轉(zhuǎn)換裝置(1)通過法蘭固定在屏蔽室(6)墻體的測(cè)試過孔處;接收天線(2)通過同軸線纜(5)與接收儀(3)導(dǎo)通,它們?cè)O(shè)置在屏蔽室(6)內(nèi),接收天線(2)正對(duì)屏蔽室(6)墻體的測(cè)試過孔,接收天線(2)頂端與測(cè)試過孔間的距離為D。
2.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的一種射頻泄漏測(cè)試裝置,其特征是:所述的射頻轉(zhuǎn)換裝置(1)是波導(dǎo)同軸轉(zhuǎn)換裝置、雙向射頻連接器或雙向金屬屏蔽電連接器,其中部設(shè)置有金屬法蘭盤,通過螺絲與屏蔽室(6)的外墻體固定,金屬法蘭盤與屏蔽室(6)的外墻體之間加裝導(dǎo)電襯墊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的一種射頻泄漏測(cè)試裝置,其特征是:所述的接收天線(2)為環(huán)形磁場(chǎng)測(cè)試天線、半波振子天線或微波喇叭天線,其接收測(cè)試頻段為9KHz至40GHz。
4.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的一種射頻泄漏測(cè)試裝置,其特征是:所述的接收儀(3)是接收機(jī)或頻譜儀。
5.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的一種射頻泄漏測(cè)試裝置,其特征是:所述的信號(hào)源(4)是函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、調(diào)制信號(hào)發(fā)生器或?qū)掝l信號(hào)源。
6.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的一種射頻泄漏測(cè)試裝置,其特征是:所述的同軸線纜(5)是能夠滿足9KHz至40GHz測(cè)試的同軸線纜。
7.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的一種射頻泄漏測(cè)試裝置,其特征是:所述的屏蔽室(6)是電磁屏蔽室、屏蔽暗室或半電波暗室。
8.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的一種射頻泄漏測(cè)試裝置,其特征是:所述的接收天線(2)頂端與測(cè)試過孔間的距離D小于等于30厘米。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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