[實用新型]一種環形近場測試探頭

有效

• 申請號: 201220551056.2
• 申請日: 2012-10-25
• 公開（公告）號: CN202916351U
• 公開（公告）日: 2013-05-01
• 發明（設計）人: 宋博
• 申請（專利權）人: 西安開容電子技術有限責任公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R33/02
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 張培勛

技術領域

本實用新型涉及電子測試與電磁泄漏故障定位與測試技術領域，是一種環形近場測試探頭。

背景技術

近年來，在電磁兼容領域，對于產品的抗電磁干擾性能要求越來越高，由于各類電子產品的電磁干擾輻射頻段越來越寬，且低頻段尤為密集，加上設備結構較為復雜，使得電子設備上許多結構部位易造成電磁泄漏，普通輻射發射測試天線可以測試到設備整體對外部的輻射大小，但卻不能對其泄漏位置進行準確定位，這無疑對結構形式復雜、干擾頻帶范圍寬的電子設備故障診斷排查工作造成了難題。因此，迫切需要一種體積較小、可進場測試的輻射定位探頭，從而精確找出輻射位置并進行整改。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種環形近場測試探頭，能夠使電子設備對外輻射位置進行準確定位，用于機箱、電子電力系統、屏蔽室及屏蔽方艙的側場輻射泄漏位置的定位。

本實用新型的技術方案是一種環形近場測試探頭，它至少包括探頭輻射體、探頭腔體、射頻回路和射頻同軸連接器，其特征是：探頭腔體是一端開口的中空絕緣殼體，其前端是圓環腔體，開口端有測試手柄，中間部分是桿狀腔體；探頭輻射體呈半圓環狀設置在探頭腔體的圓環腔體內，其末端位置位于探頭腔體的圓環腔體與桿狀腔體的連接處；射頻回路設置在探頭腔體的另一半圓環腔體和桿狀腔體內，其前芯線與探頭輻射體前端的外回路層搭接焊接，射頻回路與探頭輻射體在前端形成絕緣間隙；射頻回路與探頭輻射體在探頭腔體的圓環腔體與桿狀腔體連接處通過外層回路和芯線全部焊接導通；測試手柄包裹在射頻回路的末端外側；射頻同軸連接器設置在探頭腔體的開口端，并內嵌在測試手柄的末端，射頻回路后端的芯線插入射頻同軸連接器內部且與射頻同軸連接器的線芯焊接導通，射頻回路與射頻同軸連接器通過外回路層360°焊接固定。

所述的探頭腔體的前端圓環腔體的直徑為1厘米至12厘米。

所述的探頭輻射體與射頻回路都是半鋼線或半柔線的射頻線纜，由外回路層包裹芯線構成。

所述的探頭輻射體、射頻回路和射頻同軸連接器共同構成環巴倫接收測試裝置。

所述的測試手柄是圓柱體絕緣棒。

所述的射頻同軸連接器的類型是N型、BNC型、SMA型或TNC型。

所述的絕緣間隙是通過射頻回路的芯線與探頭輻射體的外回路層焊接形成，絕緣間隙的寬度為1毫米至4毫米。

這種環形近場測試探頭的使用頻段是1kHz至4.5GHz。

本實用新型的特點是這種環狀近場測試探頭結構簡單、使用方便，可測試電場和磁場兩種近場信號，可用于進場輻射點定位，具有高增益、寬頻帶、高靈敏度、體積小和通用性好等特點。

附圖說明

下面將結合實施例對本實用新型作進一步的說明：

圖1是一種環形近場測試探頭的外部結構示意圖；

圖2是一種環形近場測試探頭的剖面結構示意圖。

圖中：1、探頭輻射體；2、探頭腔體；3、射頻回路；4、測試手柄；5、射頻同軸連接器；6、絕緣間隙；7、射頻同軸連接器的線芯。

具體實施方法

如圖1和圖2所示，探頭腔體2是一端開口的絕緣殼體，其前端是環形腔體，環形腔體的直徑是1cm至12cm，開口端設置有測試手柄4，中間部分呈桿狀腔體。

探頭輻射體1是半鋼線或半柔線的射頻線纜，彎曲成半圓環狀布置在探頭腔體2的圓環腔體內，探頭輻射體1的末端位于探頭腔體2的圓環腔體和桿狀腔體的連接處，前端位于探頭腔體2的圓環腔體頂部。

射頻回路3也是半鋼線或半柔線的射頻線纜，前端彎曲成半圓環狀，后端成直線狀，布置在探頭腔體2的另一半圓環腔體和桿狀腔體內。

探頭輻射體1和射頻回路3都是外回路層包裹芯線的射頻線纜。

射頻回路3前端的芯線與探頭輻射體1前端的外回路層搭接焊接，探頭輻射體1的末端與射頻回路3的拐點通過外回路層與芯線焊接導通，該拐點位于探頭腔體2的圓環腔體和桿狀腔體的連接處。

在射頻回路3與探頭輻射體1的前端，由于芯線焊接外回路層，將形成1毫米至4毫米的絕緣間隙。

測試手柄4是圓柱體絕緣棒，位于探頭腔體2的開口端，并包裹在射頻回路3的末端外側。使用時握住測試手柄4，能夠保證手持部位不對測試結果產生影響。

射頻同軸連接器5設置在探頭腔體2的開口端，并內嵌在測試手柄4的末端，射頻回路3末端的芯線插入射頻同軸連接器5的內部，且射頻同軸連接器的線芯7與射頻回路3末端的芯線焊接固定。