[實用新型]一種偏光片貼附精度測量裝置

有效

• 申請號: 201220548227.6
• 申請日: 2012-10-24
• 公開（公告）號: CN202853534U
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 趙寅初;公偉剛;許安龍
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

技術領域

本實用新型涉及液晶面板質量檢測器具技術領域，特別涉及一種偏光片貼附精度測量裝置。

背景技術

在液晶面板生產過程中，偏光片貼附工藝完成后，需要測量貼附在液晶面板上的偏光片貼附精度。如圖1所示，貼附精度指的是偏光片20邊緣與液晶面板10邊緣的距離，一般需要測量A1、A2、A3和A4共4個點位，而液晶面板的兩側都需要貼附偏光片，因此，測量一個液晶面板上的偏光片的貼附精度一般需要測量8個點位。

目前，通常使用目鏡測量偏光片的貼附精度，通常情況下，每個液晶面板需要測量8個點位，若是貼附精度出現波動時，則要求對32個點位測量，工作量比較大，效率低；而且采用目鏡測量時，由于目鏡本身精度限制及人為因素引起讀數誤差較大，不能很好的對偏光片的貼附精度進行管控。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供了一種方便快捷地、精確地測量偏光片貼附精度的偏光片貼附精度測量裝置。

為了實現上述目的，本實用新型提供以下技術方案：

一種偏光片貼附精度測量裝置，包括：測量平臺，位于所述測量平臺周邊的至少一個滑動結構，以及滑動裝配在每一個所述滑動結構上的至少一個尺寸測量模塊；其中，

所述滑動結構的導向方向與所述測量平臺的長邊或短邊平行；

所述尺寸測量模塊包括：滑動裝配在所述滑動結構上的基座，設置于所述基座上具有可伸縮測量探桿的讀數盤，設置于所述基座和所述測量平臺之間且位于所述測量探桿下方的厚度調整塊；其中，

所述厚度調整塊的上端面與所述測量平臺的上端面平行，并高出所述測量平臺的上端面，且所述厚度調整塊的上端面與所述測量平臺的上端面之間的高度差小于或等于待測液晶面板中偏光片的厚度；

所述測量探桿的伸縮方向垂直于所述測量平臺和所述厚度調整塊位置相對的端面；且在豎直方向上，所述測量探桿與所述測量平臺的上端面之間的距離小于待測液晶面板的厚度。

優選地，所述滑動結構包括凹槽本體和位于所述凹槽本體底部的滑軌。

進一步地，所述滑動結構還包括設置于所述凹槽本體的側壁，與所述滑軌平行的滑槽孔；所述尺寸測量模塊可可通過螺釘和所述滑槽孔固定在所述滑軌上。

優選地，所述滑動結構與所述測量平臺為一體化結構。

優選地，所述滑動結構數量為兩個，且位置相鄰。

較佳地，每一個所述滑動結構上設置有兩個所述尺寸測量模塊。

優選地，所述測量探桿下方對應的所述厚度調整塊的上端面設置有凹槽，且所述凹槽的長度方向與所述測量探桿長度方向平行。

較佳地，所述厚度調整塊的第二端面具有兩個長軸方向垂直所述測量平臺上端面的橢圓形孔，所述厚度調整塊通過螺釘和所述兩個橢圓形孔固定在所述基座上，并可調整所述厚度調整塊的上端面與所述測量平臺的上端面之間高度差。

較佳地，所述厚度調整塊的上端面相對于所述測量平臺的上端面高出一個待測偏光片的厚度。

優選地，上述讀數盤為數顯千分表或數顯百分表。

本實用新型提供的偏光片貼附精度測量裝置在使用時，首先調整厚度調整塊相對于測量平臺上端面的高度，使厚度調整模塊的上端面高出測量平臺的上端面，且厚度調整模塊的上端面與測量平臺的上端面之間高度差小于或等于待測液晶面板中偏光片的厚度，優選地，厚度調整模塊的上端面與測量平臺的上端面之間的高度差為待測液晶面板上貼附的偏光片的厚度；然后調整測量探桿的前端面與厚度調整塊的前端面平齊，也就是厚度調整塊與測量平臺相對的端面，將讀數盤歸零；最后將貼有偏光片的液晶面板平放在測量平臺上，平推液晶面板向尺寸調整模塊移動，當液晶面板的邊緣與讀數盤的測量探桿接觸后，推動測量探頭移動，直至偏光片與厚度調整塊的前端面接觸，此時，讀取各個讀數盤上顯示的數值，從而獲得偏光片在液晶面板上的貼附精度。

從上述技術方案可知，本實用新型提供的偏光片貼附精度測量裝置較之背景技術中使用的目鏡，可明顯減小因目鏡本身精度和人為因素引起的讀數誤差，提高測量偏光片在液晶面板上的貼附精度；同時，本偏光片貼附精度測量裝置一次測試可獲得至少兩個點位的偏光片貼附精度，方便快捷，提高了測量效率；因此，本實用新型提供的偏光片貼附精度測量裝置能夠方便快捷地、精確地測量偏光片在液晶面板上的貼附精度。

附圖說明

圖1為現有技術中測量偏光片貼附精度的點位分布圖；

圖2為本實用新型實施例提供的偏光片貼附精度測量裝置的結構示意圖；

圖3為圖2中尺寸測量模塊的結構示意圖；