[實用新型]半導體激光器光束特性測試裝置有效

申請號：	201220516599.0	申請日：	2012-10-10
公開（公告）號：	CN202853880U	公開（公告）日：	2013-04-03
發明（設計）人：	張普;劉興勝;吳迪;宗恒軍	申請（專利權）人：	西安炬光科技有限公司
主分類號：	G01M11/02	分類號：	G01M11/02
代理公司：	西安智邦專利商標代理有限公司 61211	代理人：	陳廣民
地址：	710119 陜西省西安市高***	國省代碼：	陜西;61
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摘要：
搜索關鍵詞：	半導體激光器光束特性測試裝置
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【權利要求書】：

1.半導體激光器光束特性測試裝置，包括半圓形光束接收裝置和旋轉驅動機構；半導體激光器的輸出端位于該半圓形光束接收裝置的圓心，半圓形光束接收裝置面向半導體激光器安裝有多個光接收器，各個光接收器分別接有微型探測器；以半導體激光器的輸出光束的光軸為旋轉軸，半圓形光束接收裝置或半導體激光器由所述旋轉驅動機構驅動旋轉。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述多個光接收器均勻分布，各個光接收器與半導體激光器的輸出端之間的距離相等。

3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述光接收器為光纖或光波導；微型探測器采用光電二極管或光電倍增管。

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