[實用新型]一種半導體測試分選計數裝置

有效

• 申請號: 201220505594.8
• 申請日: 2012-09-28
• 公開（公告）號: CN202823926U
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 董安意;陳祺;陳永威;區永強;郭志圍;陳逸晞
• 申請（專利權）人: 佛山市藍箭電子股份有限公司
• 主分類號: B07C5/36
• 分類號: B07C5/36
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 艾持平

1.一種半導體測試分選計數裝置，包括有測試主機，各分選桶，測試頭，分選導管，振動盤，半導體分立器件經振動盤排序，順序進入測試頭進行品質測試、由測試主機判別分類，經分選導管送入各分選桶；其特征在于：增設有計數器及與之信號連接的多個感應探頭，計數器的感應探頭分別設置在各分選桶內，且計數器通過信號控制線與測試主機連接。

2.根據權利要求1所述的分選計數裝置，其特征在于：所述的計數器的感應探頭采用電磁線圈探頭，對落入分選桶內的半導體分立器計數累加。

3.根據權利要求1或2所述的分選計數裝置，其特征在于：所述的計數器在某項分類達到設定值時，計數器發出報警信號，并發出一個停止信號給測試主機，停止測試。