[實用新型]一種SMD封裝濾波器測試座

有效

• 申請號: 201220501411.5
• 申請日: 2012-09-27
• 公開（公告）號: CN202794245U
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 袁文;邱云峰
• 申請（專利權）人: 貴州航天計量測試技術研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 吳無懼

1.一種SMD封裝濾波器測試座，它包括底板（1），其特征在于：底板（1）上表面有第一覆銅區域（6）、第二覆銅區域（7）和第三覆銅區域（8），第一覆銅區域（6）和第二覆銅區域（7）上分別連接有被測件固定片（4），在第三覆銅區域（8）中心與第一覆銅區域（6）和第二覆銅區域（7）相鄰位置焊接有小銅塊（5），有二個標準接頭（2）分別固定在底板（1）的兩端中間位置，二個標準接頭（2）的接頭內芯分別焊接在第一覆銅區域（6）和第二覆銅區域（7）上，安裝腳焊接在第三覆銅區域（8）上。

2.根據權利要求1所述的一種SMD封裝濾波器測試座，其特征在于：底板（1）四個角上有安裝孔（9），支柱(3)通過安裝孔（9）與底板固定連接。

3.根據權利要求1所述的一種SMD封裝濾波器測試座，其特征在于：被測件固定片（4）為銅片。

4.根據權利要求1所述的一種SMD封裝濾波器測試座，其特征在于：被測件固定片（4）為直角形狀，一個邊與覆銅區域焊接，另一個邊垂直于底板（1）。

5.根據權利要求1所述的一種SMD封裝濾波器測試座，其特征在于：被測件固定片（4）的寬帶與被測件寬帶、第一覆銅區域（6）和第二覆銅區域（7）的寬帶相同。

6.根據權利要求1所述的一種SMD封裝濾波器測試座，其特征在于：二個被測件固定片（4）之間的距離與被測件長度相同。

7.根據權利要求1所述的一種SMD封裝濾波器測試座，其特征在于：小銅塊（5）的水平截面與被測件底部電極尺寸相同，小銅塊（5）的高度和被測件固定片（4）的彎曲處倒角半徑相同。