[實(shí)用新型]一種焊接試板X(qián)射線探傷輔助架有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220498235.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN202794068U | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓世濤;于桂斌;候巖;張曉晨 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 遼寧忠旺集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275 | 代理人: | 趙榮之 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 焊接 射線 探傷 輔助 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種焊接試板X(qián)射線探傷輔助架。
背景技術(shù)
X射線探傷技術(shù)是無(wú)損檢測(cè)的主要方法之一,是檢測(cè)高安全等級(jí)焊縫的必要手段。X射線探傷是指利用X射線穿透金屬的能力,使X射線穿透被檢物體,缺陷的部位與基本金屬對(duì)射線的吸收能力不同,缺陷部位所含的空氣或非金屬夾雜對(duì)射線吸收能力較低,在結(jié)合相應(yīng)的暗室處理,從而獲得相應(yīng)的缺陷影響。一張合格的底片上應(yīng)包含部件編號(hào)、透照制度、日期、厚度、中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記和像質(zhì)計(jì)等信息。這些信息時(shí)在X射線拍攝開(kāi)始前,由工作人員以排列鉛字的方式放置在未曝光的X射線底片或焊接試板上端。通過(guò)X射線照射及暗室處理顯現(xiàn)在曝光后的底片上。工作人員根據(jù)曝光后的底片,對(duì)焊縫的焊接質(zhì)量進(jìn)行評(píng)定。在焊接試板的X射線探傷實(shí)際工作中,易出現(xiàn)以下兩種影響底片質(zhì)量的問(wèn)題,一是焊接試板與未曝光底片未能放置整齊,導(dǎo)致焊縫圖像整體偏上或偏下,未出現(xiàn)在底片的中央,嚴(yán)重情況下焊縫整體傾斜,這些情況都有可能影響焊接質(zhì)量的評(píng)定。另一種情況是在大批量檢測(cè)時(shí),更換焊接試板及未曝光底片后,需要重新編制鉛字號(hào)碼,由于每次手動(dòng)操作后都會(huì)有鉛字位置的變動(dòng),這就導(dǎo)致在一批底片上的鉛字信息不在同一地方,顯得不整齊影響底片的美觀。
實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此,本實(shí)用新型的目的是提供一種焊接試板X(qián)射線探傷輔助架,保證焊縫出現(xiàn)在底片的中心位置,不發(fā)生傾斜,另外在大批量檢測(cè)時(shí),使焊縫底片的鉛字信息整齊有序。
本實(shí)用新型的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種焊接試板X(qián)射線探傷輔助架,包括用于放置鉛板或焊接試板的底架,所述底架上以可拆卸的方式設(shè)置有能透過(guò)X射線的頂架和限定頂架位置的限位機(jī)構(gòu)。
進(jìn)一步,所述限位機(jī)構(gòu)包括設(shè)置于底架上的立柱和設(shè)置在頂架上與立柱配合的通孔。
進(jìn)一步,所述立柱至少2根并相對(duì)底架短邊方向上的中心線對(duì)稱布置。
進(jìn)一步,所述頂架包括框形結(jié)構(gòu)的外框和設(shè)于外框內(nèi)的透明塑料片。
本實(shí)用新型的有益效果是:
1)底片與焊接試板以兩立柱為定位即可保證焊縫出現(xiàn)在底片的中心位置,不發(fā)生傾斜;
2)頂架上設(shè)有可拆卸的塑料片,在大批量檢測(cè)時(shí),將鉛字信息貼在塑料片上同一位置使同批次的焊縫底片的鉛字信息整齊有序,另外當(dāng)塑料片磨損后更換方便;
3)由于頂架與底架之間插入式連接,連接方式簡(jiǎn)單快捷,有利于提高工作效率,而且可以單獨(dú)更換頂架或底架。
本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)、目標(biāo)和特征在某種程度上將在隨后的說(shuō)明書(shū)中進(jìn)行闡述,并且在某種程度上,基于對(duì)下文的考察研究對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將是顯而易見(jiàn)的,或者可以從本實(shí)用新型的實(shí)踐中得到教導(dǎo)。本實(shí)用新型的目標(biāo)和其他優(yōu)點(diǎn)可以通過(guò)下面的說(shuō)明書(shū)來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。
附圖說(shuō)明
為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)描述,其中:
附圖1本實(shí)用新型在底片拍攝時(shí)的使用狀態(tài)圖;
附圖2本實(shí)用新型在底片評(píng)定時(shí)的使用狀態(tài)圖。
具體實(shí)施方式
以下將參照附圖,對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述。應(yīng)當(dāng)理解,優(yōu)選實(shí)施例僅為了說(shuō)明本實(shí)用新型,而不是為了限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
如圖所示,一種焊接試板X(qián)射線探傷輔助架,包括用于放置鉛板6或焊接試板2的底架1,所述底架上設(shè)置有能透過(guò)X射線的頂架3和限定頂架位置的限位機(jī)構(gòu)。
本實(shí)施例中,擺放焊接試板2與底片4時(shí)以頂架中心為定位即可保證焊縫出現(xiàn)在底片的中心位置,不發(fā)生傾斜,所述頂架3能透過(guò)X射線使底片成相清晰。
作為本實(shí)施例的進(jìn)一步改進(jìn),所述限位機(jī)構(gòu)包括設(shè)置于頂架上的立柱和設(shè)置在底架上與立柱配合的通孔;本案中由于頂架與底架之間插入式連接,連接方式簡(jiǎn)單快捷,有利于提高工作效率,而且可以單獨(dú)更換頂架或底架。
作為本實(shí)施例的進(jìn)一步改進(jìn),所述立柱沿底架底架短邊方向上的中心線對(duì)稱布置;對(duì)齊時(shí)快捷、方便。
作為本實(shí)施例的進(jìn)一步改進(jìn),所述頂架3為框形結(jié)構(gòu),所述頂架框架內(nèi)為可拆卸的透明塑料片;在大批量檢測(cè)時(shí),將鉛字信息貼在塑料片上使焊縫底片的鉛字信息整齊有序,另外當(dāng)塑料片磨損后更換方便。
本實(shí)用新型在拍攝底片時(shí),如圖1所示將底架1放置在最下方,然后從下往上依次放置鉛板6、底片4、頂架3、焊接試板2同時(shí)確保焊縫5的中心位置與底片4的中心位置對(duì)齊,避免焊縫5拍偏的情況。拍攝完后更換下一個(gè)焊接試板時(shí),僅在可拆卸塑料上更換相應(yīng)的鉛字信息,使一整批的底片鉛字信息均在底片上同一位置,因此齊整,美觀。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





