[實(shí)用新型]基板檢測用傳感器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220493455.8
• 申請日: 2012-09-25
• 公開（公告）號: CN202886624U
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳亮;馮高強(qiáng);楊小春
• 申請（專利權(quán)）人: 松下電工神視電子（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01V8/12
• 分類號: G01V8/12
• 代理公司: 北京金信立方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11225
• 代理人: 黃威;胡上海

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種傳感器，特別是涉及一種用于檢測基板生產(chǎn)流水線上是否有基板的基板檢測用傳感器。

背景技術(shù)

基板是制造PCB的基本材料,一般情況下,基板就是覆銅箔層壓板，單、雙面印制板在制造中是在基板材料——覆銅箔層壓板上，有選擇地進(jìn)行孔加工、化學(xué)鍍銅、電鍍銅、蝕刻等加工，得到所需電路圖形。但對于生產(chǎn)線上進(jìn)行過孔加工的基板，如果需要通過傳感器檢測流水線有沒有基板，現(xiàn)有技術(shù)的普通傳感器具有一發(fā)光二極管固定在圓形的固定底座上，再將圓形的透鏡固定在圓形的固定底座上。但這樣結(jié)構(gòu)的傳感器投射出來的檢測光在基板上是一個圓形的光斑，由于基板上有許多過孔和凹槽，所以有可能檢測光線剛好穿過基板上的過孔和凹槽，從而導(dǎo)致無法準(zhǔn)確檢測到基板的有無，需要改進(jìn)。

實(shí)用新型內(nèi)容

鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種能準(zhǔn)確檢測基板生產(chǎn)流水線上是否有基板的基板檢測用傳感器。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供的一種基板檢測用傳感器，包括外殼和設(shè)置于所述外殼內(nèi)的電路板、固定底座和透鏡，所述電路板上設(shè)有發(fā)光元件和感光元件，其中，所述固定底座上并列設(shè)置有貫通的投光槽和受光槽，所述投光槽和所述受光槽的截面為多邊形，所述發(fā)光元件和所述感光元件分別對應(yīng)設(shè)置于所述投光槽和所述受光槽的一側(cè)開口處，所述透鏡設(shè)置于所述投光槽和所述受光槽的另一側(cè)開口處。

作為優(yōu)選，所述發(fā)光元件為發(fā)光二極管。

作為優(yōu)選，所述投光槽的截面為矩形。

作為優(yōu)選，所述透鏡為矩形透鏡。

作為優(yōu)選，所述感光元件外側(cè)套設(shè)有一屏蔽罩，所述屏蔽罩頂端設(shè)置有受光孔。

與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實(shí)用新型的基板檢測用傳感器通過投射多邊形的光斑到生產(chǎn)線上需要檢測的基板上，避免了基板上過孔和凹槽對檢測光線的干擾，提高了檢測的準(zhǔn)確性。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的基板檢測用傳感器的立體分解結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實(shí)用新型的基板檢測用傳感器的固定底座的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)做進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

如圖1和圖2所示，本實(shí)用新型提供的一種基板檢測用傳感器，包括外殼2和設(shè)置于所述外殼2內(nèi)的電路板3、固定底座6和透鏡7，所述外殼2上設(shè)置有出線孔21，線纜1穿過所述出線孔21連接至所述電路板3；所述電路板上設(shè)有發(fā)光元件31和感光元件32，其中，所述固定底座6上并列設(shè)置有貫通的投光槽61和受光槽62，所述投光槽61和所述受光槽62的截面為多邊形，所述發(fā)光元件31和所述感光元件32分別對應(yīng)設(shè)置于所述投光槽61和所述受光槽62的一側(cè)開口處，所述透鏡7設(shè)置于所述投光槽61和所述受光槽62的另一側(cè)開口處。在檢測時，發(fā)光元件31發(fā)出的光線由多邊形的投光槽61投射，穿過透鏡7后投射到待檢測的基板（未圖示）上，由于多邊形的投光槽的作用，檢測光線在基板上形成的為非圓形的多邊形光斑，因此基板上的過孔和凹槽并不會導(dǎo)致光線的完全穿過，所以始終有光線反射回傳感器。反射回來的光線經(jīng)透鏡7進(jìn)入受光槽62，然后進(jìn)入位于受光槽62一側(cè)出口的感光元件32，感光元件32由此根據(jù)光線的有無判斷生產(chǎn)線上的基板的有無，通過顯示蓋5可以顯示檢測結(jié)果。

在本實(shí)施例中，作為優(yōu)選，所述發(fā)光元件32為發(fā)光二極管。

多邊形的投光槽61是為了確保投射出去的檢測光線在待測基板上形成非圓形的光斑，這樣不會受到基板上的過孔和凹槽的影響。作為優(yōu)選，所述投光槽61和/或所述受光槽62的截面為方形。

感光元件32是根據(jù)由被測物上的反射光線的有無判定基板是否存在，為了避免發(fā)光元件31發(fā)出的光線對其檢測產(chǎn)生的干擾作用，如圖1所示，作為優(yōu)選，所述感光元件32外側(cè)套設(shè)有一屏蔽罩4，所述屏蔽罩4頂端設(shè)置有受光孔（圖中未示出）。

另外，本實(shí)用新型中，透鏡7優(yōu)選地也為矩形透鏡，這樣有利于將透鏡7裝配于所述固定底座6上的投光槽61或者受光槽62。

當(dāng)然，以上所述是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。