[實用新型]陣列基板有效
| 申請號: | 201220488350.3 | 申請日: | 2012-09-21 |
| 公開(公告)號: | CN202794788U | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發明(設計)人: | 周思思 | 申請(專利權)人: | 上海中航光電子有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1362 | 分類號: | G02F1/1362;G02F1/1333 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 | ||
技術領域
本實用新型涉及平板顯示技術,特別涉及一種陣列基板。
背景技術
液晶顯示裝置主要包括陣列基板和彩膜基板,在陣列基板上包括多個顯示單元,每個顯示單元包括多個薄膜晶體管(TFT)、多條數據線和多條掃描線。而在陣列基板的生產制作的過程中,需要經過多道成膜、曝光和刻蝕工藝,每一道工藝過程都有可能會影響到數據線、掃描線和TFT的品質,產生短線、短路或者TFT失效等不良。為了及時發現上述各種不良,通常在陣列基板的生產制作的過程中,設置多道陣列檢查工序。每道陣列檢查工序都會對陣列基板上的多個TFT進行通電檢查。為了配合上述陣列檢查,需要在陣列基板上設置檢查襯墊,檢查襯墊通過導線與所述顯示單元相連接,檢查信號通過檢查探針、導線和檢查襯墊送入各顯示單元。
因為大尺寸mask的費用昂貴以及曝光系統的尺寸限制,通常對整個陣列基板的一次曝光是通過同一塊mask經過累積多次分曝光完成的。每一次分曝光可以完成一組顯示單元集合的曝光,每組顯示單元集合可以包括至少一個以上的顯示單元,每組顯示單元集合共用一組檢查探針。在陣列基板上對應于每個顯示單元會設置多個檢查襯墊,每個檢查襯墊通過導線與顯示單元連接,每組顯示單元集合中的各顯示單元對應的檢查襯墊之間通過導線連接。在陣列檢查時,所述檢查探針與顯示單元集合中的一個顯示單元對應的檢查襯墊相連接,檢查信號通過檢查探針、導線和檢查襯墊送入各顯示單元。
下面舉例說明上述一次曝光后的陣列基板情況,如圖1所示,陣列基板100經過6次分曝光后,形成6組顯示單元集合101,每組顯示單元集合101包括一個連接顯示單元102和一個組內顯示單元103,所述顯示單元集合101還包括與所述連接顯示單元102對應的多個檢查襯墊104,所述多個檢查襯墊104通過第一導線105與所述連接顯示單元102連接,所述多個檢查襯墊104通過第二導線106與所述組內顯示單元103相連接。在對所述陣列基板100進行陣列檢查時,檢查探針107與每組顯示單元集合101中的連接顯示單元102對應的檢查襯墊104相連接,將檢查信號通過檢查襯墊104、第一導線105和第二導線106送入各顯示單元內,即,通過第一導線105送入連接顯示單元102,通過第二導線106送入組內顯示單元103。如圖1所示,因為第一導線105和第二導線106長度不同,所以檢查探針107到各顯示單元(連接顯示單元102和組內顯示單元103)的電阻也不同,從而導致進入各顯示單元的檢查信號是檢查探針的信號經過了不同電阻的導線的分壓后的信號。也就是說,每個顯示單元接受到的檢查信號并不相同,當導線的電阻差異較大時,會使每個顯示單元接受到的檢查信號的差異也比較大,從而影響檢查的準確性。
實用新型內容
本實用新型提供一種陣列基板,解決每個顯示檢查單元接受的檢查信號差異大的問題,以達到提高陣列檢查準確性的目的。
為解決上述問題,本實用新型提供一種陣列基板,包括多個顯示單元集合,每個顯示單元集合均包括一個連接檢查探針的連接顯示單元和至少一個組內顯示單元,還包括對應所述連接顯示單元的多個檢查襯墊,所述多個檢查襯墊分別通過多個第一導線與所述連接顯示單元連接,所述多個檢查襯墊分別通過多個第二導線與所述至少一個組內顯示單元連接,與同一個檢查襯墊連接的第一導線與第二導線的電阻的差值小于一預設值。
可選的,每個第一導線中至少有一部分為波浪線。
可選的,每個第一導線中至少有一部分為周期性波浪線。
可選的,每個第二導線中至少有一部分為直線。
可選的,與同一個檢查襯墊連接的第一導線與第二導線中,所述第二導線中至少有一部分的線寬大于所述第一導線的線寬。
可選的,所述預設值的范圍為50Ω~1000Ω。
可選的,所述檢查襯墊的數量為5-10個。
可選的,所述多個第一導線和第二導線的材質相同。
在本實用新型中,與同一檢查襯墊連接的第一導線與第二導線的電阻的差值小于一預設值。對于不同的產品,可以靈活設置所述預設值,使得所述第一導線和所述第二導線的電阻值盡可能的接近。從檢查探針輸入的檢查信號,經過電阻值接近的第一導線和第二導線后分別進入連接顯示單元和組內顯示單元,因此檢查信號因為第一導線和第二導線而受到的衰減也基本接近,因此每個顯示單元接受到的衰減后的檢查信號差異并不大,從而保證了檢查的準確性。
附圖說明
圖1為現有技術的陣列基板的示意圖;
圖2本實用新型一實施例的陣列基板的示意圖;
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