[實用新型]一種太陽能晶硅電池片的測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220471692.4 | 申請日: | 2012-09-17 |
| 公開(公告)號: | CN202837198U | 公開(公告)日: | 2013-03-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 潘阿偉;馬標;郭忠民 | 申請(專利權)人: | 西安黃河光伏科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學專利中心 61204 | 代理人: | 顧潮琪 |
| 地址: | 710043 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能 電池 測試 裝置 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及一種測試裝置,尤其涉及利用電致發(fā)光原理對單個太陽能晶硅電池片進行測試的裝置。
背景技術
太陽能光伏組件主要的生產過程是使用鋼化玻璃、EVA膠膜、電池片、背板等材料經過高溫固化后形成層壓組件,在其四周安裝鋁邊框提高其機械強度并用于戶外安裝。目前光伏組件使用的電池片平均厚度僅為180μm左右,在電池片生產過程中很多環(huán)節(jié)都有可能造成隱裂(隱裂指的是電池片出現肉眼無法察覺的裂縫),一旦隱裂的電池片被封裝入電池組件內,會導致組件的使用壽命降低。組件生產車間通常會利用晶硅電池片電致發(fā)光的原理對組件進行檢測,用以檢驗組件是否存在隱裂、裂片、斷柵等不良,稱為EL(Electroluminescence)測試,進行這種測試的儀器被稱為組件EL測試儀。但是,這種普遍使用的測試方法及測試儀器只能針對已經焊接的電池片進行,而此時已無法明確的區(qū)分出現的隱裂是電池片來料缺陷或是焊接過程中造成,也就是說無法對隱裂電池片進行有效地來料控制,如果要檢驗未焊接的電池片是否存在隱裂等缺陷,需要另外購置專用的單片EL測試儀,此類測試儀市場價格大約在30-40萬人民幣,對于企業(yè)來說需要負擔較高的成本,無法普及使用。
發(fā)明內容
為了克服現有技術的不足,本發(fā)明提供一種可連接于組件EL測試儀的測試裝置,采用這種裝置,可以使用普通的組件EL測試儀在晶硅電池片沒有焊接之前就可以進行檢測,滿足企業(yè)對電池片來料的檢驗,并且操作簡單,速度快,成本低廉。
本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種單片EL測試裝置,放置于組件EL測試儀的暗室里,包括下底板、上壓板、高度限位框架、探針導軌和探針頭。
所述下底板為高透光鋼化玻璃,在高透光鋼化玻璃上安裝有若干下探針導軌,下探針導軌上安裝有下探針頭,下探針頭的位置與待測試晶硅電池片的柵線分布相對應,與下探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測試儀測試線的的負極;所述上壓板上安裝有上探針導軌,上探針導軌上安裝有上探針頭,上探針頭的位置與下探針頭對應,與上探針頭相連接的引出線纜連接組件EL測試儀測試線的正極;上壓板和下底板在一側鉸接。
所述上探針導軌之間位置距離可調,上探針導軌可拆卸添加;所述上探針頭數量、上探針頭之間距離可調;所述下探針導軌之間位置距離可調,下探針導軌可拆卸添加;所述下探針頭數量、下探針頭之間距離可調。
所述上壓板在邊框上固定有鎖扣裝置及高度限位塊,使上壓板扣合后探針頭與電池片能充分接觸,且壓力適中,避免由于壓力過大造成電池片損傷。
所述上壓板在邊框上固定有把手。
所述下底板在邊框上固定有上端限位塊及側面限位塊,用以固定測試電池片的位置。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明可以安裝在組件生產車間現有的組件EL測試儀上對一塊電池片進行測試,觀察其是否在尚未焊接的情況下即出現隱裂現象,可作為組件車間的電池片來料檢驗工具。其成本低廉,不需占用額外的空間,可滿足不同規(guī)格電池片測試。使用時操作簡單,使用壽命長。其作用可以完全等同于一臺獨立的單片EL測試儀。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的結構示意圖;
圖2為本發(fā)明的側視圖;
圖3為上壓板的仰視圖;
圖4為下底板的俯視圖;
圖中:1-上壓板;2-上壓板把手;3-上壓板探針導軌;4-探針頭;5-下底板引出線纜;6-上壓板引出線纜;7-上端限位塊;8-下底板;9-鋼化玻璃;10-下底板探針導軌;11-側面限位塊;12-高度限位框;13-鎖扣裝置。
具體實施方式
本發(fā)明提供一種單片EL測試裝置,需加裝于組件EL測試儀上。組件EL測試儀主要包括暗室及紅外相機,單片EL測試裝置放置于組件EL測試儀的暗室里,并與組件EL測試儀的電源正負極相連接。在通電后,單片EL測試裝置可利用晶硅電池片電致發(fā)光的特性進行測試作業(yè)。
所述單片EL測試裝置的特征是:一種單片EL測試裝置,放置于組件EL測試儀的暗室里,包括下底板、上壓板、上端限位塊、側面限位塊、高度限位框架、鎖扣裝置、探針導軌、探針頭和EL測試儀連接線。
所述下底板為高透光鋼化玻璃,在高透光鋼化玻璃上裝有下探針導軌,探針導軌上分布著探針頭,探針導軌可按照測試晶硅電池片柵線數量、柵線間距離進行調整,探針頭數量級分布密度可根據測試晶硅電池片柵線情況進行調整。在下底板后側有與探針頭相連接的引出線纜,用以連接組件EL測試儀測試線的的負極。
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