[實(shí)用新型]一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220459333.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202735479U | 公開(公告)日: | 2013-02-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尤路;劉軍;夏勇;張卿;楊志謙 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/3185 | 分類號(hào): | G01R31/3185 |
| 代理公司: | 合肥金安專利事務(wù)所 34114 | 代理人: | 金惠貞 |
| 地址: | 230088 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 擴(kuò)展 邊界 掃描 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
1.一種可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),其特征在于包括如下組成部分:
測(cè)試計(jì)算機(jī)(10),用于依次通過以太網(wǎng)接口(20)和以太網(wǎng)控制器(30)向JTAG控制器(40)發(fā)出測(cè)試指令,并依次通過以太網(wǎng)控制器(30)和以太網(wǎng)接口(20)接收自JTAG控制器(40)處發(fā)送來的測(cè)試結(jié)果;
JTAG控制器(40),用于接收測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)發(fā)送來的測(cè)試指令,并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量,所述JTAG控制器(40)通過JTAG接口(70)與被測(cè)件上的邊界掃描器件雙向通信相連,所述JTAG控制器(40)還通過邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)與被測(cè)件上的接口連接器相連;
邊界掃描擴(kuò)展模塊(50),用于通過JTAG接口接收J(rèn)TAG控制器(40)發(fā)送來的JTAG測(cè)試向量并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào),邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)對(duì)被測(cè)件發(fā)送用于測(cè)試覆蓋被測(cè)件上的接口連接器處待測(cè)器件的測(cè)試信號(hào)及接收測(cè)試結(jié)果,所述測(cè)試結(jié)果通過JTAG接口傳送至JTAG控制器(40);
電源(60),用于向以太網(wǎng)控制器(30)、JTAG控制器(40)、邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)提供用電。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述JTAG控制器(40)包括如下組成部分:
邊界掃描控制器(41),用于依次通過以太網(wǎng)接口(20)和以太網(wǎng)控制器(30)接收測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)發(fā)送來的測(cè)試指令,并產(chǎn)生符合JTAG標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測(cè)試向量,所述邊界掃描控制器(41)依次通過以太網(wǎng)控制器(30)和以太網(wǎng)接口(20)向測(cè)試計(jì)算機(jī)(10)發(fā)送測(cè)試結(jié)果;所述邊界掃描控制器(41)還與JTAG路由器(42)通過標(biāo)準(zhǔn)JTAG信號(hào)連接;
JTAG路由器(42),用于通過多路JTAG接口(70)與被測(cè)件上的JTAG接口對(duì)應(yīng)相連,所述JTAG路由器(42)控制所述多路JTAG接口(70)向被測(cè)件和邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)同時(shí)發(fā)送JTAG測(cè)試向量并采集測(cè)試結(jié)果,然后將所采集到的測(cè)試結(jié)果傳送至邊界掃描控制器(41);所述JTAG路由器(42)與邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)采用標(biāo)準(zhǔn)JTAG信號(hào)連接;
電源(60)與邊界掃描控制器(41)和JTAG路由器(42)均為電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述邊界掃描擴(kuò)展模塊(50)包括如下組成部分:
邊界掃描器件(51),通過JTAG接口與JTAG路由器(42)通信連接,接收來自邊界掃描控制器(41)的JTAG測(cè)試向量,并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào);邊界掃描器件(51)通過適配器(52)向被測(cè)件(90)發(fā)送測(cè)試信號(hào),同時(shí)采集適配器(52)轉(zhuǎn)接來的被測(cè)件(90)的測(cè)試結(jié)果,再依次通過JTAG路由器(42)和邊界掃描控制器(41)將測(cè)試結(jié)果回傳至測(cè)試計(jì)算機(jī)(10);
適配器(52),用于使電源(60)與被測(cè)件之間的電壓信號(hào)相匹配和/或使邊界掃描器件(51)與被測(cè)件的接口連接器之間的電平信號(hào)相匹配;
電源(60)與邊界掃描器件(51)和適配器(52)均為電連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述適配器(52)呈插條狀,適配器(52)的兩端設(shè)置有電壓轉(zhuǎn)換部件(521),適配器(52)的中部設(shè)置有電平轉(zhuǎn)換部件(522)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述以太網(wǎng)接口(20)、以太網(wǎng)控制器(30)、邊界掃描控制器(41)、JTAG路由器(42)、邊界掃描器件(51)、適配器(52)、電源(60)以及多路JTAG接口(70)均整合安裝在同一個(gè)測(cè)試底板(80)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的可擴(kuò)展型邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述邊界掃描器件(51)包括Altera公司的型號(hào)為EPF10K100EBC356-3的FPGA,所述FPGA安置于測(cè)試底板(80)中,通過接口連接器與適配器(52)相連。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
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