[實用新型]HF收發(fā)機(jī)綜合測試臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220457750.8 | 申請日： | 2012-09-10 |
| 公開（公告）號： | CN202798738U | 公開（公告）日： | 2013-03-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 蔣桂彬 | 申請（專利權(quán)）人： | 成都華太航空科技有限公司 |
| 主分類號： | H04B17/00 | 分類號： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 610000 四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | hf 收發(fā) 綜合測試 | ||
1.?一種HF收發(fā)機(jī)綜合測試臺，包括試驗臺本體，其特征在于：試驗臺本體上設(shè)有連接電纜接頭J1、J2、J3、J4、J5,以及電源開關(guān)、離散控制開關(guān)、ARINC429數(shù)據(jù)信號輸入孔、ARINC429數(shù)據(jù)信號輸出孔、離散及模擬信號測試孔、狀態(tài)指示燈、Q9插座、電位器、表頭、電源輸入孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述HF收發(fā)機(jī)綜合測試臺，其特征在于：所述的電纜接頭J1用于連接到收發(fā)機(jī)的MP接口，J2用于連接到收發(fā)機(jī)的TP接口，J3用于連接到耦合器的J1接口，J4用于連接到控制盒的J1接口，J5用于連接到收發(fā)機(jī)的BP接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述HF收發(fā)機(jī)綜合測試臺，其特征在于：所述的離散控制開關(guān)為13個，分別為S1至S13，所述S1為三相115VAC/400Hz電源控制開關(guān)；向上為ON，向下為OFF；S2為HF?CONT控制開關(guān)，向上為ON，向下為OFF；S3為PORT?SEL選擇開關(guān)，向上選擇A，向下選擇B；S4為NARROW/WIDE選擇開關(guān)，向上選擇NARROW，向下選擇WIDE；S5為?STRUT控制開關(guān)，向上為GND，下為AIR；S6為BELOWER控制開關(guān)，向上打開收發(fā)機(jī)風(fēng)機(jī)電源，向下斷開風(fēng)機(jī)電源；S7為PANEL?LIGHT控制開關(guān)，向上控制盒面板燈點亮；S8為SQ/RF?SENS選擇開關(guān)，向上選擇SQ，向下選擇RF?SENS；S9為SDI選擇開關(guān)，向上選擇0，向下選擇1；S10為?CONT?PANEL控制開關(guān)，向上為ON，向下為OFF；S11為備用開關(guān)；S12為?PTT控制開關(guān)，按壓PTT開關(guān)收發(fā)機(jī)處于發(fā)射狀態(tài)；S13為DATA?KEY控制開關(guān)，按壓DATA?KEY開關(guān)收發(fā)機(jī)處于數(shù)據(jù)信號發(fā)射狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述HF收發(fā)機(jī)綜合測試臺，其特征在于：所述的ARINC429數(shù)據(jù)信號輸入孔為4個，分別為TP1、TP2、TP3?、TP4，所述TP1為FREQ?PORT?A/A數(shù)據(jù)信號輸入；TP2為FREQ?PORT?A/B數(shù)據(jù)信號輸入；TP3為FREQ?PORT?B/A數(shù)據(jù)信號輸入；TP4為FREQ?PORT?B/B數(shù)據(jù)信號輸入。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述HF收發(fā)機(jī)綜合測試臺，其特征在于：所述的ARINC429數(shù)據(jù)信號輸出孔為4個，分別為TP5、TP6、TP7、TP8；所述TP5為BITE?IN?HI數(shù)據(jù)自檢信號輸入；TP6為BITE?IN?LO數(shù)據(jù)自檢信號輸入；TP7為BITE?OUT?HI數(shù)據(jù)自檢信號輸出；TP8為BITE?OUT?LO數(shù)據(jù)自檢信號輸出。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述HF收發(fā)機(jī)綜合測試臺，其特征在于：所述的離散及模擬信號測試孔為32個，分別為TP9至TP40，所述TP9為KEY?LINE?TEST；TP10為IDE?TONE?TEST；?TP11為AM?AGC?TEST?；TP12為IF?AGC?TEST；TP13為CONTROL?IN?FAIL?TEST；TP14為AM?COMP?TEST；TP15為LOSS?OFF?LOCK?TEST；TP16為OUT?OF?BAND?TEST；TP17為+20VDC?TEST；TP18為+28VDC?TEST；TP19為ALC?VOL?TEST；TP20為PROCESSOR?FAULT?TEST；TP21為MIC?CONT?VOL?TEST；TP22為RF?AGC?TEST；TP23為RF?DETECT?TEST；TP24為LRU?FAIL?TEST；TP25為+10VDC?TEST；TP26為+5VDC?TEST；TP27為PROTECT?TEST；TP28為COMP?AGC?TEST；TP29為KEY?IN；TP30為SPARE?；TP31為PA?CURR?LO?TEST；TP32為PA?VOL/CURR?HI?TEST；TP33為GND?TEST；TP34為POWER?COMM?TEST；TP35為MAIN?TEST；TP36為-12VDC?TEST；TP37為REFLECT?POWER?TEST；TP38為FOR?WARD?POWER?TEST；TP39為SPARE；TP40為SPARE。
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