[實用新型]基于LabView的激光加工過程溫度場測量裝置有效
| 申請號： | 201220447936.5 | 申請日： | 2012-09-04 |
| 公開（公告）號： | CN202770534U | 公開（公告）日： | 2013-03-06 |
| 發明（設計）人： | 郭華鋒;雍兆;滿家祥;張佐營;楊根喜;李清偉;胡志強 | 申請（專利權）人： | 徐州工程學院 |
| 主分類號： | G01J5/00 | 分類號： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 徐州市三聯專利事務所 32220 | 代理人： | 周愛芳 |
| 地址： | 221000 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 labview 激光 加工 過程 溫度場 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于LabView的激光加工過程溫度場測量裝置，包括溫度測量裝置，其特征在于：所述的溫度測量裝置包括紅外測溫傳感器、單片機、單片機供電電源模塊、傳感器供電電源模塊、22.1184MH晶振及復位電路；所述的紅外測溫傳感器通過線路與單片機連接，單片機通過RS232芯片與上位機相連，傳感器供電電源模塊與傳感器連接，單片機供電電源模塊與單片機相連，紅外測溫傳感器安裝在激光加工裝置上。
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