[實用新型]一種半導體分立器件測試系統有效
| 申請號： | 201220445842.4 | 申請日： | 2012-09-04 |
| 公開（公告）號： | CN202770958U | 公開（公告）日： | 2013-03-06 |
| 發明（設計）人： | 張新華;張若煜 | 申請（專利權）人： | 紹興文理學院 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 紹興市越興專利事務所 33220 | 代理人： | 蔣衛東 |
| 地址： | 312000 浙江省紹興*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 半導體 分立 器件 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種半導體分立器件測試系統，其特征在于：包括主控平臺系統、總線通訊系統、各個測試功能卡、顯示系統；各測試功能模塊獨立掛置在總線通訊系統上，總線通訊系統連接到主控平臺系統中，主控平臺系統連接顯示系統，將測試結果數據加以顯示。
2.如權利要求1所述的一種半導體分立器件測試系統，其特征在于：所述的各個測試功能卡通過數據線并列連接兩個測試工位。
3.如權利要求1所述的一種半導體分立器件測試系統，其特征在于：所述的主控平臺系統連接有為主控平臺系統供電的電源系統、將數據輸入的鍵盤輸入系統、以及用于反饋信號狀態的狀態指示系統。
4.如權利要求1所述的一種半導體分立器件測試系統，其特征在于：所述的測試功能卡包括VF測試卡、VR測試卡、IR測試卡。
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