[實用新型]高分辨力雙軸自準直儀系統

有效

• 申請號: 201220432506.6
• 申請日: 2012-08-28
• 公開（公告）號: CN202814358U
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發明（設計）人: 王震;張俊杰;張忠武;李永剛;孫方金
• 申請（專利權）人: 北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 高尚梅

1.一種高分辨力雙軸自準直儀系統，其特征在于：該系統包括儀器外殼（14）以及固定在儀器外殼（14）上的物鏡組套筒（2），其中，物鏡組套筒（2）由前后依次設置的物鏡前組（1）和物鏡后組（4）組成，儀器外殼（14）內安裝有水平LED光源（8）、垂直LED光源（19）、水平準直分劃板（10）、垂直準直分劃板（17）、分光棱鏡A（11）、分光棱鏡B（12）、分光棱鏡C（16）以及反光鏡（13），其中，反光鏡（13）對通過物鏡后組（4）的水平光線進行反射，形成垂直光線，射入兩個依次布置的分光棱鏡B（12）以及分光棱鏡A（11），并在分光棱鏡A（11）的垂直光線通路上依次設有水平準直分劃板（10）、水平聚光鏡（9）以及水平LED光源（8），分光棱鏡A（11）反射的水平光線通路上依次安裝有顯微物鏡B（7）和垂直安裝的第二線陣CCD（5）；分光棱鏡B（12）反射的水平光線通路上依次安裝有分光棱鏡C（16）、顯微物鏡A（6）以及水平安裝的第一線陣CCD（3），且在分光棱鏡C（16）垂直水平面的反射光線通路上依次安裝有垂直準直分劃板（17）、垂直聚光鏡（18）以及垂直LED光源（19）。

2.根據權利要求1所述的一種高分辨力雙軸自準直儀系統，其特征在于：所述的反光鏡（13）由若干個反光鏡組成，可以對通過物鏡后組（4）的水平光線進行若干次折疊反射后，形成垂直光線。

3.根據權利要求1所述的一種高分辨力雙軸自準直儀系統，其特征在于：所述的水平準直分劃板（10）或垂直準直分劃板（17）安裝在物鏡前組（1）和物鏡后組（4）的焦面上。

4.根據權利要求1所述的一種高分辨力雙軸自準直儀系統，其特征在于：所述的物鏡組套筒（2）通光口徑D=50mm，焦距f'=1000mm。

5.根據權利要求4所述的一種高分辨力雙軸自準直儀系統，其特征在于：所述的顯微物鏡A（6）或顯微物鏡B（7）的光學放大倍數K=7.5。