[實用新型]智能變電站二次設備場景測試系統

有效

• 申請號: 201220432407.8
• 申請日: 2012-08-29
• 公開（公告）號: CN202735445U
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 黃毅;房亞囡;王洋;任毅;李大勇;楊暢;向前;梁志琴;周文聞
• 申請（專利權）人: 天津市電力公司;北京博電新力電氣股份有限公司;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 王來佳

技術領域

本實用新型屬于電力系統及其自動化領域，尤其是一種智能變電站二次設備場景測試系統。

背景技術

隨著智能電網建設的不斷深入，各類新型智能二次設備不斷涌現。這些新型設備貫穿于智能電網建設的各個環節，為智能電網數據與信息的采集、監測和控制提供了必要的手段和支撐，其性能的優劣已直接關系到電網的安全穩定運行。傳統的測試方法是針對單個裝置進行故障模擬或測試，目前，還沒有從智能站的整站場境環境的閉環測試和模擬的能力和手段，難以發現整個智能變電站系統運行的問題，無法對系統運行提供可靠的保證。

發明內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供一種設計合理、能夠對智能變電站二次設備運行場境進行模擬閉環測試的智能變電站二次設備場景測試系統。

本實用新型解決其技術問題是采取以下技術方案實現的：

一種智能變電站二次設備場景測試系統，包括上位機和測試控制器，上位機通過以太網與測試控制器相連接進行數據交互，測試控制器還通過電以太網與保護設備相連接對保護設備進行測試，測試控制器通過光以太網接口連接到GOOSE網絡用于訂閱和發布GOOSE信息，通過光以太網接口連接到IEC61588和IRIG-B上實現對時功能，通過光以太網接口連接到智能電子裝置用于模擬合并器并輸出IEC61850-9-1/2格式的采樣值，通過光串口與合并器相連接用于模擬采集器并按照串行編碼規則輸出IEC60044-8格式采樣值，通過開入量接口接收保護裝置的硬接點輸出并實現保護裝置的閉環測試功能，通過開出量接口用于給被測對象開出信息。

而且，所述的測試控制器包括ARM模塊、DSP模塊和FPGA模塊，ARM模塊通過HPI總線與DSP模塊相連接實現數據傳輸及配置數據功能，DSP模塊與FPGA模塊通過并行總線相連接將DSP模塊生成的仿真數據輸出給FPGA模塊，所述的ARM模塊設置兩個電以太網接口與上位機及保護裝置相連接，FPGA模塊提供光以太網接口。

而且，所述的ARM模塊包括ARM芯片、以太網PHY芯片、兩個以太網變壓器、RTC和ARM模塊存儲器，ARM芯片與RTC芯片相連接由其提供時鐘信號，ARM模塊通過以太網PHY芯片與兩個以太網變壓器相連接。

而且，所述的ARM芯片還連接有JTAG接口、UART接口和I2C接口擴展。

而且，所述的DSP模塊包括DSP芯片及與其相連接的DSP緩沖區和DSP模塊存儲器。

而且，所述的FPGA模塊包括FPGA芯片、FPGA總線緩沖區、以太網控制芯片和光纖傳輸器，FPGA芯片通過FPGA總線緩沖區設置8對開入量接口、4對開出量接口和8個光串口，FPGA芯片通過以太網控制芯片與光纖傳輸器相連接，該光纖傳輸器設置8個光以太網接口。

本實用新型的優點和積極效果是：

本實用新型通過上位機和測試控制器構建智能變電站的測試環境，通過測試控制器與保護設備、GOOSE網絡、IEC61588網絡、IRIG-B網絡和合并器等相連接從而實現對智能變電站二次設備運行場景的模擬閉環測試，為智能變電站二次設備故障及整站SCD文件的檢查提供了測試手段，為系統可靠運行提供保障。

附圖說明

圖1是本實用新型的連接示意圖；

圖2是測試控制器的電路框圖。

具體實施方式

以下結合附圖對本實用新型做進一步詳述。