[實用新型]一種顯微鏡測量檢驗支架

有效

• 申請號: 201220427486.3
• 申請日: 2012-08-27
• 公開（公告）號: CN202814333U
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發明（設計）人: 唐娜
• 申請（專利權）人: 山東齊芯微系統科技有限公司
• 主分類號: G01B9/04
• 分類號: G01B9/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種檢驗支架，尤其是一種顯微鏡測量檢驗支架。

背景技術

在IC卡模塊檢驗過程中，需要在電子測量顯微鏡下對模塊的包封區域進行測量，測量時需保證測試物X軸向水平，一般此過程的調整需要對測試物進行復雜的手動調節，增加了檢驗員的工作量，且工作效率不高。同時在測量其他項目時也會因為產品沒有可靠的固定而使產品滑落，導致測試數據不準。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種測量精度高、工作效率高的顯微鏡測量檢驗支架。

實現本實用新型目的的顯微鏡測量檢驗支架，包括檢驗支架底板、位于檢驗支架底板中心的中空的觀察窗、位于檢驗支架底板上的用于固定測試物的定位銷、以及用于壓緊測試物的測試壓板，所述檢驗支架底板的下方設有磁鐵。

本實用新型的顯微鏡測量檢驗支架的有益效果如下：本實用新型的顯微鏡測量檢驗支架，能將物體可靠地固定在顯微鏡的檢驗臺上，同時保證了測試物的X軸及Z軸向的水平放置，確保了測量精度，簡化了操作過程，提高了工作效率。

附圖說明

圖1為本實用新型的顯微鏡測量檢驗支架的結構示意圖。

具體實施方式

本實用新型的實施例如下：如圖1所示，本實用新型的顯微鏡測量檢驗支架，包括檢驗支架底板1，位于檢驗支架底板1中心的中空的觀察窗3，位于檢驗支架底板1上的用于固定測試物的定位銷2，用于壓緊測試物的測試壓板4，所述檢驗支架底板1的下方設有磁鐵5。

本實用新型的工作原理是：將檢驗支架底板固定在測量顯微鏡的螺絲固定孔上并鎖緊，保證測試底板X軸、Z軸向水平；將待測產品放置在檢驗支架底板上，并保證底板上的定位銷卡住測試物的齒孔；根據測量物類型放上測試壓板，壓板自動壓緊待測物后便可進行待測物的檢驗測量。

上面所述的實施例僅僅是對本實用新型的優選實施方式進行描述，并非對本實用新型的范圍進行限定，在不脫離本實用新型設計精神前提下，本領域普通工程技術人員對本實用新型技術方案做出的各種變形和改進，均應落入本實用新型的權利要求書確定的保護范圍內。