[實用新型]一種懸臂式二次元量測設備三機一體量測機構

有效

• 申請號: 201220424539.6
• 申請日: 2012-08-24
• 公開（公告）號: CN202757586U
• 公開（公告）日: 2013-02-27
• 發明（設計）人: 張家齊
• 申請（專利權）人: 昆山萬像光電有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及精密二次元自動化量測技術設備，尤其涉及一種懸臂式二次元量測設備三機一體量測機構。

背景技術

目前，市面上的二次元自動化量測設備大多是單體量測的，自動化量測分為平面量測以及鐳射測高，鐳射測高又分為接觸式與非接觸式，市面上的量測機都是只有測平面或測高度，也有同時測平面跟測高，但是三位一體的技術其他還沒有出現，無法適用各種工件的測量，使得工作效率得不到提升。

實用新型內容

本實用新型是為了解決上述不足，提供了一種懸臂式二次元量測設備三機一體量測機構。

本實用新型的上述目的通過以下的技術方案來實現：一種懸臂式二次元量測設備三機一體量測機構，其特征在于：包括整體固定治具，整體固定治具底部連接CCD量測平面鏡頭，且一側連接探針夾持治具，探針夾持治具夾持探針手臂，探針手臂連接鐳射探針，另一側連接點鐳射夾持治具，點鐳射裝置夾持治具上安裝點鐳射裝置。

本實用新型是在二次元自動化量測儀器上，同時組裝CCD量測平面鏡頭、鐳射探針和點鐳射裝置。通過CCD平面鏡頭抓取量測點，再通過軟件設置將鐳射探針以及點鐳射裝置同步抓取到CCD量測點，在進行平面量測的同時也可進行各個方向的鐳射探測。

本實用新型與現有技術相比的優點是：采用本實用新型的結構，量測能進行一次多工，可同時進行平面精密量測，非接觸式鐳射測高，接觸式探針鐳射量測。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

其中，1-CCD量測平面鏡頭；2-點鐳射裝置；3-鐳射探針；4-探針手臂；5-探針夾持治具；6-點鐳射裝置夾持治具；7-整體固定治具。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型進一步詳述：

如圖1所示，將CCD量測平面鏡頭1模組安裝在整體固定治具7中間，然后通過探針夾持治具5夾住探針手臂4，再將鐳射探針3安裝在探針手臂4的底端使得鐳射探針3可以自由轉動。再在CCD鏡頭1模組的另外一側通過一組點鐳射裝置夾持治具6連接點鐳射裝置2，這樣進行三位一體，多工位同時操作。

本實用新型的具體操作步驟是：通過CCD平面鏡頭1抓取到需要量測的量測位置，然后通過軟件編程，將CCD鏡頭抓取的影像跟鐳射抓取影像設置疊合，這樣即可進行影像跟鐳射量測可以同時進行，且鐳射量測可根據需求選擇進行接觸式或非接觸式量測。大大提高機臺的實用性，適應性，以及實用范圍，同時在量測同一工件的不同位置時，可根據要求在同一程序測試各種工件距離，大大提高了機臺效率。

以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內。