[實用新型]一種光學(xué)元件光譜測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220423896.0 | 申請日: | 2012-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN202793742U | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉景峰 | 申請(專利權(quán))人: | 北京奇峰藍(lán)達(dá)光學(xué)科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京中創(chuàng)陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11003 | 代理人: | 尹振啟;張顯光 |
| 地址: | 100016 北京市朝*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光學(xué) 元件 光譜 測量 裝置 | ||
1.一種光學(xué)元件光譜測量裝置,其特征在于,包括底座,所述底座一側(cè)設(shè)置有發(fā)出光線的光源,沿光源照射方向設(shè)置有色散光線的光柵,在光柵后方設(shè)置有放置待測基片的角度架,在角度架后方設(shè)置有光譜探測器,所述角度架通過夾具固定樣片或待測基片。
2.如權(quán)利要求1所述的測量裝置,其特征在于,該裝置設(shè)置有兩個所述角度架,角度架的夾具角度可調(diào)。
3.如權(quán)利要求1所述的測量裝置,其特征在于,所述待測基片由所述樣片鍍有角度膜層構(gòu)成。
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