[實(shí)用新型]用于橫波探傷的斜探頭

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220421740.9
• 申請(qǐng)日: 2012-08-23
• 公開（公告）號(hào): CN202757913U
• 公開（公告）日: 2013-02-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王維東;張?jiān)食?/a>
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)神華能源股份有限公司;北京國(guó)華電力有限責(zé)任公司;國(guó)華徐州發(fā)電有限公司
• 主分類號(hào): G01N29/24
• 分類號(hào): G01N29/24;G01N29/04
• 代理公司: 北京潤(rùn)平知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 翟洪玲;董彬

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及無損檢測(cè)領(lǐng)域，具體地，涉及一種用于橫波探傷的斜探頭。

背景技術(shù)

高溫緊固螺栓是火力發(fā)電廠熱動(dòng)力設(shè)備的重要部件。在長(zhǎng)期運(yùn)行中，由于高溫及高應(yīng)力的作用，螺栓材料容易產(chǎn)生熱脆、蠕變、疲勞、應(yīng)力腐蝕；由于安裝中預(yù)緊力過高及不慎燒傷中心孔等原因，螺栓材料容易產(chǎn)生裂紋。為了確保設(shè)備安全運(yùn)行，加強(qiáng)對(duì)高溫緊固螺栓的有效檢驗(yàn)甚為重要。

目前常使用小角度縱波檢測(cè)的方法、橫波檢測(cè)方法和橫波檢測(cè)方法來檢驗(yàn)高溫緊固螺栓內(nèi)部是否出現(xiàn)裂紋。

當(dāng)螺栓端面較小無法放置縱波探頭時(shí)，會(huì)利用用于橫波探傷的斜探頭對(duì)螺栓進(jìn)行橫波探傷。但是，目前的用于橫波探傷的斜探頭都不能準(zhǔn)確地進(jìn)行橫波檢測(cè)。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是提供一種用于橫波探傷的斜探頭，利用所述斜探頭進(jìn)行橫波探傷時(shí)可以準(zhǔn)確地確定螺栓的螺紋根部的裂紋。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種用于橫波探傷的斜探頭，該斜探頭包括具有開口的殼體、晶片和保護(hù)層，所述晶片設(shè)置在所述殼體內(nèi)部，所述保護(hù)層設(shè)置在所述殼體的所述開口處與所述殼體固定連接，并將所述殼體封閉，所述保護(hù)層的一個(gè)端面與所述晶片貼合，另一個(gè)端面用于與待測(cè)物體相貼合，其中，所述保護(hù)層的所述另一個(gè)端面的形狀與所述待測(cè)物體的表面形狀相匹配。

優(yōu)選地，所述晶片為一個(gè)。

優(yōu)選地，所述保護(hù)層的所述另一個(gè)端面為圓柱面的一部分且向內(nèi)凹陷。

優(yōu)選地，該斜探頭的折射角的正切值為1.7，頻率為2MHz至2.5MHz。

利用本實(shí)用新型提供的斜探頭進(jìn)行橫波探傷時(shí)，斜探頭的保護(hù)層表面能夠與待測(cè)物體貼合，使得絕大部分晶片產(chǎn)生的超聲波都能夠通過保護(hù)層穿入到待測(cè)物體內(nèi)部，從而提高了所述斜探頭在橫波探傷時(shí)發(fā)現(xiàn)缺陷的能力。并且，利用所述用于橫波探傷的斜探頭對(duì)螺栓進(jìn)行橫波探傷時(shí)，能夠準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)螺紋根部的裂紋。

本實(shí)用新型的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的具體實(shí)施方式部分予以詳細(xì)說明。

附圖說明

附圖是用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的具體實(shí)施方式一起用于解釋本實(shí)用新型，但并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的限制。在附圖中：

圖1是根據(jù)本實(shí)用新型一種實(shí)施方式的斜探頭的側(cè)剖視示意圖；

圖2是圖1中所示的斜探頭的主視圖；

圖3是圖1中所示的斜探頭的俯視圖；

圖4是利用圖1中所示的斜探頭對(duì)螺栓探傷的示意圖，其中，所述螺栓的根部并無裂紋；

圖5是圖4中所示的螺栓的螺紋反射波的波形示意圖；

圖6是利用圖1中所示的斜探頭對(duì)螺栓探傷的示意圖，其中，所述螺栓的根部有裂紋；

圖7是圖6中所示的螺栓的缺陷反射波和螺紋反射波的波形示意圖。

附圖標(biāo)記說明

1?????螺紋反射波?????2??????缺陷反射波

10????晶片???????????20?????保護(hù)層

40????螺栓???????????50?????探頭接口

60????殼體???????????100????斜探頭

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的具體實(shí)施方式僅用于說明和解釋本實(shí)用新型，并不用于限制本實(shí)用新型。

如圖1至圖3所示，實(shí)用新型提供一種用于橫波探傷的斜探頭100，該斜探頭100包括具有開口的殼體60、晶片10和保護(hù)層20，晶片10設(shè)置在殼體60內(nèi)部，保護(hù)層20設(shè)置在殼體60的所述開口處與殼體60固定連接，并將殼體60封閉，保護(hù)層20的一個(gè)端面與晶片10貼合，另一個(gè)端面用于與待測(cè)物體相貼合，其中，保護(hù)層20的另一個(gè)端面的形狀與所述待測(cè)物體的表面形狀相匹配。

如圖2和圖3中所示，殼體60上設(shè)置有探頭接口50，殼體60內(nèi)的晶片10通過探頭接口50與外部電源電連接。當(dāng)利用所述斜探頭100進(jìn)行橫波探傷時(shí)，所述斜探頭100的保護(hù)層20的所述另一個(gè)端面與待測(cè)物體相貼合，晶片10振動(dòng)產(chǎn)生超聲波通過保護(hù)層20傳遞至待測(cè)物體內(nèi)部。保護(hù)層20為固體，且聲波在固體中傳播速度最快，由于保護(hù)層20貼合在待測(cè)物體的表面上，因此絕大多數(shù)由晶片10產(chǎn)生的超聲波都能通過保護(hù)層20傳遞至待測(cè)物體的內(nèi)部，從而使所述斜探頭100具有較高的發(fā)現(xiàn)待測(cè)物體內(nèi)部的缺陷的能力。