[實用新型]一體化散射比濁測試裝置

有效

• 申請號: 201220416694.3
• 申請日: 2012-08-22
• 公開（公告）號: CN202770767U
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發明（設計）人: 張世龍
• 申請（專利權）人: 鄭州科元射頻技術有限公司
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47
• 代理公司: 鄭州中原專利事務所有限公司 41109
• 代理人: 張春;李想

1.一體化散射比濁測試裝置，其特征在于：它包括一體化本體（6）及位于一體化本體（6）內部的反應杯口（1），在垂直于反應杯口軸向方向設置光源口（2）和傳感器放置口（5），光源口（2）與傳感器放置口（5）之間為光路通道，光路通道中設置光學組件（4）；光從光源口（2）射入，經過反應杯口（1）內的反應杯及光路通道中的光學組件（4）后到達傳感器放置口（5）。

2.根據權利要求1所述的一體化散射比濁測試裝置，其特征在于：在反應杯口（1）的下部設置反應杯位置感應器口（3）。

3.根據權利要求1所述的一體化散射比濁測試裝置，其特征在于：光學組件（4）包括位于光路通道內兩個相對設置的凸透鏡Ⅰ（7），在兩個凸透鏡Ⅰ（7）之間設置帶堵頭的凸透鏡Ⅱ（8），凸透鏡Ⅱ（8）的后端設置透鏡（9）。