[實(shí)用新型]集成電路的抗輻照檢測系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220411847.5 | 申請(qǐng)日: | 2012-08-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202929165U | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐睿;桂江華;張沛;鄒家軒;蔡潔明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 32104 | 代理人: | 殷紅梅 |
| 地址: | 214035*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路 輻照 檢測 系統(tǒng) | ||
1.集成電路的抗輻照檢測系統(tǒng),其特征在于:包括相互連接的上位機(jī)和輻照測試板,輻照測試板放置在真空室中,上位機(jī)在真空室外部進(jìn)行監(jiān)控;上位機(jī)對(duì)輻照測試板發(fā)送包括開始測試、停止測試和工作模式選擇在內(nèi)的控制指令,輻照測試板解析指令,完成被測芯片的測試,向上位機(jī)發(fā)送采集到的單粒子翻轉(zhuǎn)數(shù)據(jù);同時(shí),上位機(jī)通過內(nèi)部總線與電源板卡通信,通過電源板卡實(shí)時(shí)采集被測芯片的電流數(shù)據(jù)、對(duì)被測芯片進(jìn)行電源關(guān)斷及復(fù)位操作;所述輻照測試板包括FPGA、通信接口電路、電源轉(zhuǎn)換模塊,F(xiàn)PGA的I/O端口與所述通信接口電路以及被測芯片相連,電源轉(zhuǎn)換模塊的輸入端與外部的電源板卡連接,被測芯片也同所述電源板卡連接,所述電源轉(zhuǎn)換模塊的輸出端連接FPGA和通信接口電路,所述通信接口電路通過外部的通信板卡連接到上位機(jī)。
2.如權(quán)利要求1所述的集成電路的抗輻照檢測系統(tǒng),其特征在于:所述輻照測試板與被測芯片做在同一塊PCB板上,試驗(yàn)時(shí)一起放置在真空室中。
3.如權(quán)利要求1所述的集成電路的抗輻照檢測系統(tǒng),其特征在于:所述上位機(jī)采用NI?PXI-1042工控機(jī)箱,所述通信板卡采用NI?PXI-8106通信板卡,所述電源板卡采用NI?PXI-4130電源板卡。
4.如權(quán)利要求3所述的集成電路的抗輻照檢測系統(tǒng),其特征在于:所述上位機(jī)還通過所述通信板卡連接遠(yuǎn)程的監(jiān)控計(jì)算機(jī)。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試





