[實用新型]射頻線測試器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220408317.5
• 申請日: 2012-08-16
• 公開（公告）號: CN202794418U
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發(fā)明（設計）人: 賀文輝
• 申請（專利權(quán)）人: 神訊電腦（昆山）有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

【技術領域】

本實用新型涉及一種測試器，特別是涉及一種射頻線測試器。

【背景技術】

射頻（RF；Radio?Frequency）線是電子產(chǎn)品中常用的一種線材，請參閱圖1、2，圖1為射頻線結(jié)構(gòu)示意圖、圖2為射頻線內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，射頻線300通常包括線材本體100以及設于線材本體100兩端的端子200，所述線材本體100具有四層結(jié)構(gòu)，由內(nèi)而外分別為第一導電層101、第一絕緣層102、第二導電層103、第二絕緣層104，而所述端子200又具有與第一導電層101電性連接的第一導電部201以及與所述第二導電層103電性連接的第二導電部202。

對于上述射頻線300，目前在測試其是否短路或斷路時，通常會采用萬用表的兩個探針分別插入兩個所述端子200的第一導電部201，測試所述第一導電層101是否導通；再將萬用表的兩個探針分別接觸兩個所述端子200的第二導電部202，測試所述第二導電層103是否導通；最后再將萬用表的兩個探針分別插入同一所述端子200的第一導電部201、接觸第二導電部202，測試所述第一導電部201、第二導電部202是否短路。

然而，采用上述方式進行射頻線300的測試，一方面，其測試過程較為麻煩，需要耗費較多時間；另一方面，測試時插入所述端子200，會對其造成損傷，進而造成端子200擴孔。

有鑒于此，實有必要開發(fā)一種射頻線測試器，以解決上述問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

因此，本實用新型的目的是提供一種射頻線測試器，解決現(xiàn)有測試麻煩費時、以及容易造成端子擴孔的問題。

為了達到上述目的，本實用新型提供的射頻線測試器，所述射頻線包括線材本體和設于線材本體兩端的端子，所述線材本體具有由內(nèi)而外的第一導電層、第一絕緣層、第二導電層、第二絕緣層，所述端子具有與所述第一導電層電性連接的第一導電部以及與所述第二導電層電性連接的第二導電部，所述測試器包括：

二測試端子，其分別具有第一測試端和第二測試端，所述第一測試端與所述第一導電部結(jié)合，所述第二測試端與所述第二導電部結(jié)合；

串接于二所述第一測試端間的第一發(fā)光二極管、第一開關以及電源；

串接于二所述第二測試端間的第二發(fā)光二極管、第二開關以及電源。

可選的，所述第一測試端與所述第一導電部的結(jié)合方式為扣合，所述第二測試端與所述第二導電部的結(jié)合方式為扣合。

可選的，所述電源的正極接所述第一發(fā)光二極管、第二發(fā)光二極管的正極。

可選的，所述電源為電壓為3V的直流電源。

可選的，二所述第一測試端間還串接有第一電阻。

可選的，二所述第二測試端間還串接有第二電阻。

相較于現(xiàn)有技術，利用本實用新型的射頻線測試器，由于采用二測試端子與所述射頻線的端子結(jié)合，從而避免了使用萬用表探針插入而引起的擴孔；同時，在測試時，將所述第一開關與所述第二開關逐一閉合，其所對應的第一發(fā)光二極管與第二發(fā)光二極管，若是有一個不亮，則其對應的線路斷開，若閉合其中一個開關，兩個發(fā)光二極管都亮，則射頻線內(nèi)部短路，可見測試更加簡單、省時。

【附圖說明】

圖1繪示為射頻線結(jié)構(gòu)示意圖、

圖2繪示為射頻線內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3繪示為本實用新型的射頻線測試器一較佳實施例的電路圖。

【具體實施方式】

請共同參閱圖1、圖2、圖3，圖3繪示為本實用新型的射頻線測試器一較佳實施例的電路圖。

為了達到上述目的，本實用新型提供的射頻線測試器，所述射頻線300包括線材本體100和設于線材本體100兩端的端子200，所述線材本體100具有由內(nèi)而外的第一導電層101、第一絕緣層102、第二導電層103、第二絕緣層104，所述端子200具有與所述第一導電層101電性連接的第一導電部201以及與所述第二導電層103電性連接的第二導電部202，于本較佳實施例，所述測試器包括：

二測試端子400，其分別具有第一測試端401和第二測試端402，所述第一測試端401與所述第一導電部201結(jié)合，所述第二測試端402與所述第二導電部202結(jié)合；

串接于二所述第一測試端401間的第一發(fā)光二極管501、第一開關601以及電源700；

串接于二所述第二測試端402間的第二發(fā)光二極管502、第二開關以602及電源700。