[實用新型]電性測試裝置及系統

有效

• 申請號: 201220407263.0
• 申請日: 2012-08-16
• 公開（公告）號: CN202758021U
• 公開（公告）日: 2013-02-27
• 發明（設計）人: 張弓長;王文赫;曾元宏
• 申請（專利權）人: 國網電力科學研究院;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/02
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279
• 代理人: 王正茂;彭曉玲

技術領域

本實用新型涉及一種測試裝置及系統，特別涉及一種用于測試芯片等測試樣品的電學特性的裝置及系統。

背景技術

芯片是一種常見的電子元件，在很多時候，需要檢測芯片的電學特性，例如芯片上某兩個管腳之間的電阻值。這些檢測都離不開將特定的測試裝置用導線和芯片上的特定管腳電連接。一個最直接的例子就是用萬用表的兩個表筆來檢測芯片上某兩個管腳之間的電阻值大小。另外還有一些更為精密的測試儀器，能夠實現更加豐富的芯片測試功能，但在將需要測試的芯片管腳和測試儀器相互電連接時，都離不開探測頭和芯片管腳的物理觸碰。由于現在芯片的體積日趨微型化，這樣一來，芯片的管腳就不可避免地要變得更細小，管腳之間變得更加靠近。在市面上，管腳間距在0.5mm甚至更小的芯片比比皆是。

在檢測這種小管腳間距的芯片時，一種比較常見的辦法是用探針來接觸管腳。例如，在萬用表的兩個表筆上分別連接一根細針，用針尖去觸碰管腳。這種方法操作起來很麻煩，不僅細針的針尖無法和管腳固定，而且操作者的手在自然抖動時就很容易超過0.5mm的幅度，容易發生脫接或錯接。這種測試方法可靠性很差且費時費力。

一種改進的方法是將芯片固定在一個設有顯微鏡的檢測臺上，在顯微鏡下觀察芯片的管腳，并用探針來點測。這種方法在操作時很容易觀察探針和管腳是否連接可靠，但是操作起來還是很麻煩，因為顯微鏡在觀察時需要貼近芯片，為了避免移動探針或者更換芯片時觸碰到顯微鏡的鏡頭，每次更換探針點測位置時，都需要抬起顯微鏡，操作起來費時費力。另外，這種測試方法中裝置的成本也比較高。

實用新型內容

本實用新型是為了克服上述現有技術中的缺陷，提供一種電性測試裝置及系統，其結構簡單，檢測時不會受到芯片等測試樣品管腳過細、管腳間距過小的干擾，并且操作省時省力，整個裝置及系統的成本低廉。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

一種電性測試裝置，包括一個基板，所述基板上設有至少一個芯片卡槽，所述芯片卡槽中設有至少一根與一個芯片管腳形成電連接的管腳延長導線，每根所述管腳延長導線從所述芯片卡槽中延伸到所述基板上，每根所述管腳延長導線均在所述基板的表面上形成一個探測點。

進一步地，所述探測點的直徑可以至少為1mm。

進一步地，所述管腳延長導線可以是至少兩根，并且任意兩根所述管腳延長導線形成的所述探測點彼此的間距至少為2mm。

進一步地，所述管腳延長導線可以是復數個，并且所述管腳延長導線的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標準布置。

一種電性測試裝置，包括一個基板，所述基板上設有至少一個用于卡接測試樣品的管腳的卡槽，所述卡槽中設有至少一根與一個測試樣品的管腳形成電連接的管腳延長導線，每根管腳延長導線從所述卡槽中延伸到所述基板上，每根管腳延長導線均在所述基板的表面上形成一個探測點。

進一步地，所述探測點的直徑可以至少為1mm。

進一步地，所述管腳延長導線可以是至少兩根，并且任意兩根所述管腳延長導線形成的所述探測點彼此的間距至少為2mm。

進一步地，所述管腳延長導線是復數個，并且所述管腳延長導線的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標準布置

一種電性測試系統，包括前述的電性測試裝置，還包括測試器件。

進一步地，所述測試器件可包括測試筆，所述測試筆放置于所述探測點上進行電性測試。

進一步地，所述測試器件還可包括與所述測試筆相連的電性測試設備，所述電性測試設備包括萬用表、電性測試臺或精密測試儀器。

與現有技術相比，本實用新型的一個或多個實施例具有如下有益效果：

1、芯片或其他具有管腳的測試樣品安裝在卡槽（或芯片卡槽）內，管腳和管腳延長導線之間形成可靠的電連接，不會在檢測過程中因為碰撞或者晃動而發生連接不良或者錯接，這樣一來，可以使本實用新型的設計不僅適用于芯片，也適用于對包含了由芯片組成的系統模塊等進行相應的電性測試。

2、管腳延長導線和探測點的設計相當于把管腳之間的間距進行了放大，使得檢測裝置上的探筆、探頭或者探針在目測時就容易找準檢測點位，操作起來相當方便快捷。

3、整個裝置的結構簡單，測試精度高、成本低廉。

4、提出了一種更為快捷、方便的檢測方式，節省時間和效率。

5、本實用新型可加快IC設計領域的研發驗證周期，以及可以創造出新的工程模式。

附圖說明

圖1是實施例1的電路原理圖；

圖2是實施例1的裝置結構示意圖。