[實用新型]電性測試夾具及系統

有效

• 申請號: 201220407034.9
• 申請日: 2012-08-16
• 公開（公告）號: CN202975051U
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 楊苗苗;張立;張弓長
• 申請（專利權）人: 國網電力科學研究院;國家電網公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279
• 代理人: 王正茂;彭曉玲

技術領域

本實用新型涉及一種測試用的夾具及系統，特別涉及一種測試芯片電性的夾具及系統。

背景技術

芯片在進行電性（如電阻、電平、頻率等）測試的時候，需要從芯片的管腳上采集電信號。一種常見的方法是用萬用表的探筆尖端觸碰芯片的管腳，然后進行測試。由于芯片的體積日趨向微型化發展，造成芯片的管腳日趨細密，市面上管腳間距在0.5mm以內的芯片非常常見。用手動方法來操縱探筆去觸碰這種芯片的管腳很容易形成脫接、錯接的問題，影響測試的效率。

為了提高測試時探筆和管腳連接的準確性，出現了以一種設有顯微鏡的探針臺。在測試時，操作者通過顯微鏡來觀察芯片的管腳，這樣就容易保證探筆和管腳連接的準確性。但是為了防止撞傷顯微鏡的鏡頭，每次更換芯片或者調整測試管腳時，都需要抬起顯微鏡，設置好芯片之后再重新將顯微鏡落下。這樣的操作不僅繁瑣，而且嚴重降低測試的工作效率。

為了提高測試效率，出現了一種專用的接口轉化器進行芯片的電性測試。這種接口轉化器上設計了與芯片的管腳相匹配的接口電路（socket）,然后通過socket將芯片管腳上的電信號輸送到測試儀器上。這種專用的接口轉化器在測試時雖然具有很高的效率，但是也存在兩個明顯的缺陷：（1）接口通用性差，只能連接特定型號的芯片，只要是與socket不匹配的芯片就無法應用；（2）socket的成本高。

實用新型內容

本實用新型是為了克服上述現有技術中的缺陷，提供一種電性測試夾具及系統，其具有通用性強、檢測時芯片的安裝和調整速度快、檢測信號不易出錯并且成本低廉的優點。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

一種電性測試夾具，其特征在于，包括一個絕緣的本體和一個絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉軸式可開合連接，其中：所述本體上設有至少一個管腳插槽，所述上蓋上設有至少一個管腳壓臺，所述管腳插槽和所述管腳壓臺的位置相互對應，在所述本體和所述上蓋合在一起時，每一個所述管腳插槽正好被一個所述管腳壓臺壓住；所述管腳插槽內設有一個裸露的導片，所述導片上連接有一根延伸至所述本體的導線，并且所述導線的末端在所述本體的外表面上形成為一個檢測點。

進一步地，所述管腳插槽可以是復數個，并且所述管腳插槽的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標準布置。

進一步地，所述本體上可以設有一個標準排線插口，每個所述檢測點均形成該標準排線插口中的一個導線端。

進一步地，所述本體和所述上蓋之間可以設有一個提供頂開力的彈簧。

進一步地，所述本體和所述上蓋可以卡扣和卡槽配合的方式進行扣合。

進一步地，所述本體和所述上蓋之間可以設有一個提供頂開力的彈簧。

進一步地，所述本體和所述上蓋可以卡扣和卡槽配合的方式進行扣合。

一種電性測試系統，包括兩個上述的任一種電性測試夾具，還包括待測芯片，其中：所述待測芯平兩側的管腳分別對應置于兩個所述電性測試夾具的管腳插槽中。

進一步地，兩個所述電性測試夾具的本體的標準排線插口分別與測試器件相連，所述測試器件包括測試筆，所述測試筆放置于兩個所述電性測試夾具的不同檢測點上進行測試。

進一步地，兩個所述電性測試裝置本體上的標準排線插口分別插入PCB板上。

與現有技術相比，本實用新型的一個或多個實施例可具有如下有益效果：

1、芯片（或具有管腳的非芯片測試對象）一側的管腳可以很方便地插接在管腳插槽內，管腳上的電信號由導線引出到本體外表面上的檢測點上，在目測條件下就就可以非常方便地進行檢測，不用擔心出現脫接和錯接。這樣一來，可以使得本實用新型的設計不僅適用于芯片，也適用于對包含了由芯片組成的系統模塊等進行相應的電性測試。

2、按照芯片管腳的封裝標準布置的管腳插槽可以保證具有同一種封裝的芯片都可以插入到測試夾具上，而不必考慮芯片的具體型號和管腳數量多少，通用性強。

3、由于獨特的分體式結構，可以方便滿足芯片正反放置的測試要求，且不限制待測芯片的封裝尺寸，從而有效地降低操作人員的工作難度，減少測試時間，提高測試效率。

4、本體和上蓋的結構非常簡單，并且不需要應用高價格的專用socket模塊，降低了測試夾具的成本。