[實用新型]一種用于晶片電阻檢測的定位裝置有效
| 申請號： | 201220396222.6 | 申請日： | 2012-08-10 |
| 公開（公告）號： | CN202815018U | 公開（公告）日： | 2013-03-20 |
| 發明（設計）人： | 李永傳;徐明哲;李剛;陳海濱;黃斌;馬新升 | 申請（專利權）人： | 昆山市和博電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04;G01R27/02 |
| 代理公司： | 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 215300 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 晶片 電阻 檢測 定位 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于晶片電阻檢測的定位裝置，包括對射光電感應器、對射光電感應器安裝支架和產品托板，其特征在于：在產品托板上開設有用于放置產品的放置開口，在放置開口的左右兩側分別橫向貫通連接有一個定位開口，所述對射光電感應器安裝支架伸入到定位開口內，所述對射光電感應器安裝在對射光電感應器安裝支架上。
2.根據權利要求1所述的一種用于晶片電阻檢測的定位裝置，其特征在于：所述兩個定位開口對稱設置。
3.根據權利要求2所述的一種用于晶片電阻檢測的定位裝置，其特征在于：在放置開口的上下兩側分別貫通連接有一個定位爪豎向避讓口，在放置開口的左右兩側分別貫通連接有兩個定位爪橫向避讓口。
4.根據權利要求3所述的一種用于晶片電阻檢測的定位裝置，其特征在于：所述兩個定位爪橫向避讓口分別位于定位開口的上下兩側。
5.根據權利要求4所述的一種用于晶片電阻檢測的定位裝置，其特征在于：所述定位爪豎向避讓口對稱設置，所述定位爪橫向避讓口兩兩對稱設置。
6.根據權利要求5所述的一種用于晶片電阻檢測的定位裝置，其特征在于：在上方或下方的定位爪豎向避讓口的兩側分別設置有一個光源透孔。
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