[實(shí)用新型]一種外觀自動選別系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220393755.9 | 申請日: | 2012-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN202794009U | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹章強(qiáng);王天賜;陽海斌;肖周運(yùn) | 申請(專利權(quán))人: | 廣州匯僑電子有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/00 | 分類號: | G01N21/00;G01B11/00 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 顏希文 |
| 地址: | 510760 廣東省廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 外觀 自動 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電子元器件制造領(lǐng)域,尤其涉及一種外觀自動選別系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在電子元器件制作領(lǐng)域,提高產(chǎn)品質(zhì)量及設(shè)備自動化程度,降低勞動力成本,已成為企業(yè)生存的根本,在電子元器件制作過程中,一般通過人工過濾不合格的電子元件,即通過目視來判斷電子元件芯片歪斜、破損及焊接情況,但長期通過人眼去觀察容易產(chǎn)生視疲勞,同時生產(chǎn)效率比較低。另外,還需員工通過用卡尺測量電子元件引線間距,需要熟練的員工去操作,但當(dāng)測量位置及力角不同時,電子元件的可測量性較低,長期工作,員工容易疲勞,漏判率高,同時,采用人工的檢測方式,生產(chǎn)成本高。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于,提供一種可自動識別電子元器件是否合格及剔除不合格的電子元件的外觀自動選別系統(tǒng)。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種外觀自動選別系統(tǒng),包括:用于拍攝電子元件圖像的圖像采集器;用于切除電子元件的切刀;圖像處理器,用于根據(jù)所述圖像采集器所拍攝的電子元件圖像識別所述電子元件是否合格,并當(dāng)所述電子元件不合格時,驅(qū)動所述切刀切除所述電子元件,所述圖像處理器與所述圖像采集器及切刀分別相連接。
作為上述方案的改進(jìn),所述圖像采集器包括:正面鏡頭,用于拍攝所述電子元件的正面圖像;背面鏡頭,用于拍攝所述電子元件的背面圖像。
作為上述方案的改進(jìn),CCD圖像傳感器,用于將所述電子元件圖像轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號;識別模塊,用于根據(jù)所述數(shù)字信號識別所述電子元件是否合格,并當(dāng)所述電子元件不合格時,驅(qū)動所述切刀切除所述電子元件。
作為上述方案的改進(jìn),所述正面鏡頭設(shè)于所述電子元件的正面;所述背面鏡頭設(shè)于所述電子元件的背面。
作為上述方案的改進(jìn),所述外觀自動選別系統(tǒng)還包括:傳送模塊,用于帶動所述電子元件依次通過所述圖像采集器及切刀;對準(zhǔn)模塊,用于當(dāng)所述電子元件通過所述圖像采集器時,驅(qū)動所述圖像采集器拍攝電子元件圖像。
實(shí)施本實(shí)用新型,具有如下有益效果:
由于本實(shí)用新型一種外觀自動選別系統(tǒng)包括圖像采集器、圖像處理器及切刀,所述圖像采集器拍攝電子元件圖像,所述圖像處理器根據(jù)所述圖像采集器所拍攝的電子元件圖像識別所述電子元件是否合格,當(dāng)所述電子元件不合格時,驅(qū)動所述切刀切除所述電子元件,自動化程度高,無需人員看管,避免了人工通過目視或者卡尺測量的弊端,可以有效的降低企業(yè)成本,提高生產(chǎn)效率。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型一種外觀自動選別系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
圖1為本實(shí)用新型一種外觀自動選別系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
如圖1所示,所述外觀自動選別系統(tǒng)包括:
用于拍攝電子元件圖像的圖像采集器1。
用于切除電子元件的切刀3。
圖像處理器2,用于根據(jù)所述圖像采集器1所拍攝的電子元件圖像識別所述電子元件是否合格,并當(dāng)所述電子元件不合格時,驅(qū)動所述切刀3切除所述電子元件,所述圖像處理器2與所述圖像采集器1及切刀3分別相連接。
需要說明的是,所述圖像采集器1拍攝電子元件圖像,所述電子元件均沒有進(jìn)行封裝,因此可以通過所述電子元件圖像觀測所述電子元件芯片的信息,并通過有線或者無線傳輸?shù)姆绞綄⑺鲭娮釉D像轉(zhuǎn)發(fā)至所述圖像處理器2,所述圖像處理器2用于根據(jù)所述電子元件圖像識別所述電子元件是否合格,當(dāng)所述電子元件不合格時,驅(qū)動所述切刀3剔除不合格的電子元件。
更佳地,所述圖像采集器1包括:
正面鏡頭11,用于拍攝所述電子元件的正面圖像。
背面鏡頭12,用于拍攝所述電子元件的背面圖像。
需要說明的是,所述圖像采集器1通過有線或者無線傳輸?shù)姆绞綄⑺鲭娮釉恼鎴D像及背面圖像轉(zhuǎn)發(fā)至圖像處理器2。
更佳地,所述圖像處理器2包括:
CCD圖像傳感器21,用于將所述電子元件圖像轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。
識別模塊22,用于根據(jù)所述數(shù)字信號識別所述電子元件是否合格,并當(dāng)所述電子元件不合格時,驅(qū)動所述切刀3切除所述電子元件。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





