[實(shí)用新型]一種柔性薄膜光學(xué)測(cè)試固定治具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220393415.6
• 申請(qǐng)日: 2012-08-10
• 公開（公告）號(hào): CN202793739U
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 熊磊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南昌大學(xué)
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02;G01N21/35
• 代理公司: 南昌市平凡知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 36122
• 代理人: 夏材祥

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種柔性薄膜光學(xué)測(cè)試治具，具體應(yīng)用在奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀上。

背景技術(shù)

隨著觸控技術(shù)的發(fā)展，特別是I?Phone和I?Pad的出現(xiàn)，將全球觸控行業(yè)帶向了一個(gè)嶄新的時(shí)代。因此，對(duì)于柔性光學(xué)薄膜的需求量也日益增長(zhǎng)，現(xiàn)階段PET、ITO?film等光學(xué)薄膜已供不應(yīng)求。在此類柔性光學(xué)薄膜的生產(chǎn)過程中，薄膜的光學(xué)性能一直是衡量薄膜質(zhì)量的一項(xiàng)重要指標(biāo)。

對(duì)于柔性光學(xué)薄膜的光學(xué)性能檢測(cè)，主要集中在反射率、透過率、折射率、L*a*b*值和霧度等，尤其是反射率和透過率更是衡量薄膜光學(xué)性能的晴雨表。

日本奧林巴斯公司的USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀具有使用方法簡(jiǎn)單、檢測(cè)速度快和對(duì)測(cè)試樣品面積要求較小的優(yōu)點(diǎn)，對(duì)于提高生產(chǎn)效率具有顯著特點(diǎn)，倍受人們青睞。但由于柔性薄膜的生產(chǎn)方式所決定，導(dǎo)致該儀器很難精確的檢測(cè)出柔性薄膜的光學(xué)性能，因此只能得到粗略的測(cè)試結(jié)果。

利用奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀檢測(cè)柔性薄膜反射率和透過率的傳統(tǒng)方式是將柔性薄膜直接置于分光測(cè)定儀的操作臺(tái)面上進(jìn)行檢測(cè)。由于大部分柔性薄膜的生產(chǎn)都是采用卷繞的方式，這樣勢(shì)必會(huì)造成測(cè)試樣品在一定程度上彎曲。將彎曲的測(cè)試樣品置于測(cè)試臺(tái)面上直接測(cè)試容易導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確，而用膠帶將測(cè)試樣品粘貼在測(cè)試臺(tái)面上會(huì)在測(cè)試樣品上遺留殘膠，影響后續(xù)檢測(cè)，并且操作繁瑣，影響生產(chǎn)效率。同時(shí)，一些特定柔性光學(xué)薄膜，如ITO?film等的測(cè)試過程中，經(jīng)常需要測(cè)試退火前和退火后同一點(diǎn)的光學(xué)特征。傳統(tǒng)測(cè)試治具很難對(duì)測(cè)試樣品的同一點(diǎn)進(jìn)行定位，而標(biāo)記法又會(huì)對(duì)測(cè)試樣品造成一定的污染。這些因素都極大地影響了柔性光學(xué)薄膜的測(cè)試效率和結(jié)果真實(shí)性。

為了有效提高奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀在測(cè)量柔性光學(xué)薄膜時(shí)的精度問題，必須對(duì)傳統(tǒng)方法進(jìn)行改良，然而目前尚未見改良技術(shù)的報(bào)道。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供一種放置在奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀測(cè)試臺(tái)上的治具，克服傳統(tǒng)測(cè)試臺(tái)面所帶來的缺陷。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是：在現(xiàn)有的測(cè)試臺(tái)面上增加一個(gè)架子；架子中添加一個(gè)金屬片，利用磁鐵與金屬片的磁性固定住測(cè)試片，達(dá)到展平樣品的效果，樣品擋板能夠起到精確定位測(cè)試的效果。

本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)包括：樣品擋板，正方形區(qū)域，光滑金屬片放置區(qū)，通光孔，?“L”形架子固定板，磁鐵，光滑金屬片，待測(cè)樣品；

架子中的樣品擋板（1）高出正方形區(qū)域（2），正方形區(qū)域（2）高于光滑金屬片放置區(qū)（3），光滑金屬片（7）置于光滑金屬片放置區(qū)（3）內(nèi)，“L”形架子固定板（5）粘貼在兩塊樣品擋板（1）交匯處，待測(cè)樣品（8）放置于正方形區(qū)域（2）內(nèi)，且邊緣貼近樣品擋板（1）。展平樣品后，將磁鐵（6）壓于光滑金屬片（7）所對(duì)應(yīng)的樣品上，最后，將裝好待測(cè)樣品（8）的治具放置于原有測(cè)試臺(tái)面上，將“L”形架子固定板（5）頂住測(cè)試臺(tái)面一角，起到固定作用。

本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)：

1、解決了利用奧林巴斯USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀，在傳統(tǒng)方法下測(cè)定柔性光學(xué)薄膜精確度較低、重復(fù)性不佳的問題，提高了測(cè)試的精準(zhǔn)度和重復(fù)性。

2、由于該治具是利用磁鐵固定樣品，避免了用膠帶將測(cè)試樣品粘貼在測(cè)試臺(tái)面上所造成的污染樣品問題，并且也避免了粘貼膠帶所耗費(fèi)的時(shí)間，提高了檢測(cè)效率。同時(shí)，也節(jié)省了膠帶，在一定程度上降低了企業(yè)的成本。

附圖說明

圖1?為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)的俯視圖；

圖中1.樣品擋板，2.正方形區(qū)域，3.光滑金屬片放置區(qū)，4.通光孔，5.?“L”形架子固定板；

圖2為本實(shí)用新型所述柔性薄膜光學(xué)測(cè)試固定治具工作示意圖；

圖中6.磁鐵，7.光滑金屬片，8.待測(cè)樣品。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合說明書附圖以一個(gè)具體尺寸的柔性薄膜光學(xué)測(cè)試固定治具對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的說明。

架子邊長(zhǎng)120mm，高15mm，其中樣品擋板（1）的高度為15mm；正方形區(qū)域（2）為高度10mm、邊長(zhǎng)100mm的正方形區(qū)域；光滑金屬片放置區(qū)（3）為高度8mm、外徑38mm、內(nèi)徑23mm的圓環(huán)形區(qū)域，且該圓環(huán)圓心處于正方形區(qū)域（2）的對(duì)角線交點(diǎn)處，長(zhǎng)25mm、寬8mm、高20mm的“L”形架子固定板（5）粘貼于兩塊樣品擋板（1）的交匯處。?高度2mm、外徑37mm、內(nèi)徑23mm的光滑金屬片（7）固定于光滑金屬片放置區(qū)（3）內(nèi)，待測(cè)樣品（8）邊緣緊貼兩塊樣品擋板（1）。展平待測(cè)樣品（8）后，將高10mm、內(nèi)徑23mm、外徑38mm的磁鐵（6）壓于光滑金屬片（7）所對(duì)應(yīng)的待測(cè)樣品（8）上。最后，將裝好待測(cè)樣品的治具放置于原有測(cè)試臺(tái)面上，將“L”形架子固定板（5）頂住測(cè)試臺(tái)面一角，起到固定作用。當(dāng)光束通過通光孔（4）時(shí)，即可得到準(zhǔn)確的測(cè)量數(shù)據(jù)。由于樣品擋板（1）能將待測(cè)樣品（8）很好的定位，因此，可以精確地測(cè)試待測(cè)樣品（8）退火前和退火后同一點(diǎn)的數(shù)據(jù)，有利于產(chǎn)品研發(fā)。