[實(shí)用新型]一種旋扣式電子芯片檢測(cè)治具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220386922.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-08-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202870252U | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周傲雪;姚彩虹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東莞光韻達(dá)光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 田利瓊 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 旋扣式 電子 芯片 檢測(cè) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電子檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其是指一種旋扣式電子芯片檢測(cè)治具。
背景技術(shù)
90年代隨著集成技術(shù)的進(jìn)步、設(shè)備的改進(jìn)和深亞微米技術(shù)的使用,LSI、VLSI、ULSI相繼出現(xiàn),電子芯片集成度不斷提高,對(duì)集成電路封裝要求更加嚴(yán)格,I/O引腳數(shù)急劇增加,功耗也隨之增大。為滿足發(fā)展的需要,在原有封裝品種基礎(chǔ)上,電子芯片又增添了新的品種——球柵陣列封裝,簡(jiǎn)稱BGA(Ball?Grid?Array?Package。目前各種電子芯片廣泛應(yīng)運(yùn)電子領(lǐng)域的各行業(yè):電腦、手機(jī)、電腦南北橋、Mp3、MP4、DVD、DVB、打印機(jī)、通訊終端、工控主板、顯卡、數(shù)碼相機(jī)、機(jī)頂盒等。
電子芯片通常在出廠質(zhì)檢、回收品檢查、使用性能檢測(cè)等情況選都需對(duì)電子芯片進(jìn)行檢測(cè),通常情況下,檢測(cè)治具包括設(shè)置檢測(cè)電路的治具底板,治具底板上固定檢測(cè)底座,治具底板上設(shè)置連接檢測(cè)電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測(cè)探針;檢測(cè)時(shí),將電子芯片放置在檢測(cè)底座,檢測(cè)探針對(duì)應(yīng)接觸到相應(yīng)電子芯片的檢測(cè)點(diǎn),一般情況下,電子芯片的上端簡(jiǎn)單的壓塊壓住芯片或有時(shí)候?qū)⑿酒附釉跈z測(cè)底座上,讓芯片貼緊檢測(cè)探針進(jìn)行檢測(cè),然而電子芯片在檢測(cè)底座上容易錯(cuò)位,在電子芯片上端的受力不足容易造成某些部分不能與檢測(cè)探針接觸,導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確,另外焊接固定的方式工藝復(fù)雜,容易導(dǎo)致電子芯片及檢測(cè)底座的損壞。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型在于針對(duì)目前電子芯片檢測(cè)治具存在的不足,而提供一種解決以上問(wèn)題的旋扣式電子芯片檢測(cè)治具。
為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
一種旋扣式電子芯片檢測(cè)治具,包括設(shè)置檢測(cè)電路的治具底板,所述治具底板上設(shè)置檢測(cè)電子芯片的芯片容置腔,芯片容置腔內(nèi)設(shè)置連接檢測(cè)電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測(cè)探針,芯片容置腔上方設(shè)置旋扣壓板,旋扣壓板、治具底板間設(shè)置能將兩者分拆或固定的旋扣裝置,旋扣壓板上設(shè)置旋壓裝置,旋壓裝置的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊。
較佳的,所述旋扣裝置包括設(shè)置在治具底板上圍繞芯片容置腔設(shè)置兩件或兩件以上的旋掛柱,旋掛柱的頂端設(shè)置大頭的掛扣,旋扣壓板上設(shè)置與旋掛柱配合的旋扣孔,所述旋扣孔包括大于掛扣的貫通設(shè)置的穿入孔,并設(shè)置與穿入孔相接、上端較掛扣尺寸稍大下底端較旋掛柱柱體尺寸稍大的鎖扣孔。
較佳的,所述治具底板上設(shè)置的固定安裝座,旋扣裝置設(shè)置在固定安裝座與旋扣壓板間,芯片容置腔設(shè)置在固定安裝座上。
較佳的,所述治具底板設(shè)置固定檢測(cè)探針的針盤。
較佳的,所述旋壓裝置包括一設(shè)置旋鈕的螺柱,螺柱穿設(shè)過(guò)旋扣壓板上設(shè)置的與螺柱配合的螺孔,螺柱的底端連接芯片壓塊。
較佳的,所述螺柱的底端設(shè)置推力軸承連接芯片壓塊。
較佳的,所述芯片壓塊上設(shè)置穿設(shè)在旋扣壓板上的行程導(dǎo)柱。
本實(shí)用新型的有益效果在于:本實(shí)用新型的旋扣式電子芯片檢測(cè)治具,包括設(shè)置檢測(cè)電路的治具底板,所述治具底板上設(shè)置檢測(cè)電子芯片的芯片容置腔,芯片容置腔內(nèi)設(shè)置連接檢測(cè)電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測(cè)探針,芯片容置腔上方設(shè)置旋扣壓板,旋扣壓板、治具底板間設(shè)置能將兩者分拆或固定的旋扣裝置,旋扣壓板上設(shè)置旋壓裝置,旋壓裝置的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊;檢測(cè)治具使用時(shí),將電子芯片放置在芯片容置腔內(nèi),芯片容置腔對(duì)電子芯片起到管位的作用,不會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)位現(xiàn)象的產(chǎn)生;將旋扣壓板通過(guò)旋扣裝置旋轉(zhuǎn)扣設(shè)在治具底板上,然后旋動(dòng)旋壓裝置將芯片壓塊平整的壓向電子芯片,電子芯片上端均勻受力,電子芯片檢測(cè)部分與檢測(cè)探針充分接觸,檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確可靠,本檢測(cè)治具還具有操作簡(jiǎn)單,使用方便,使用壽命長(zhǎng)的優(yōu)點(diǎn)。
附圖說(shuō)明:
圖1、本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖
圖2、本實(shí)用新型的剖面結(jié)構(gòu)示意圖
圖3、本實(shí)用新型的分解結(jié)構(gòu)示意圖
圖4、本實(shí)用新型旋掛柱在旋扣孔內(nèi)旋扣狀態(tài)下的剖面示意圖
具體實(shí)施方式:
下面結(jié)合附圖1-4對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的闡述:
一種旋扣式電子芯片檢測(cè)治具,包括設(shè)置檢測(cè)電路的治具底板1,所述治具底板1上設(shè)置檢測(cè)電子芯片的芯片容置腔11,芯片容置腔11內(nèi)設(shè)置連接檢測(cè)電路并與電子芯片匹配設(shè)置的檢測(cè)探針2,芯片容置腔11上方設(shè)置旋扣壓板3,旋扣壓板3、治具底板1間設(shè)置能將兩者分拆或固定的旋扣裝置4,旋扣壓板3上設(shè)置旋壓裝置5,旋壓裝置5的底端連接壓向電子芯片的芯片壓塊6。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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